磁化分析方法、磁化分析装置以及计算机程序

    公开(公告)号:CN101529265A

    公开(公告)日:2009-09-09

    申请号:CN200780039630.8

    申请日:2007-10-31

    IPC分类号: G01R33/12 G06F17/50 H01F13/00

    摘要: 能够考虑不完全磁化区域的磁化状态而进行高精度的磁化分析。磁化分析装置通过采用与磁化器相关的磁化器参数和与磁体材料相关的磁体参数进行磁场分析来计算施加于磁体材料的各部位的磁化磁场(S17),基于磁化磁场的计算结果和与不完全磁化区域相关的预先测量的退磁曲线,来计算作为与待分析的永磁体的不完全磁化区域相关的区域参数的回复相对导磁率和矫顽力(S18),通过使用区域参数的计算结果进行磁场分析,来计算表示待分析的永磁体的磁化状态的状态参数(S19)。

    磁力特性计算方法和磁力特性计算装置

    公开(公告)号:CN103620434B

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201280020085.9

    申请日:2012-05-15

    发明人: 枣田充俊

    IPC分类号: G01R33/12 H01F41/00 H01F41/02

    摘要: 使用预先存储的表示δ(深度)与△HcJ(矫顽力增加量)之间对应关系的数据库以及表示Dy扩散条件(Dy扩散时的扩散系数、扩散通量和处理时间)的信息的数据库,根据磁体的形状信息和Dy导入面信息计算磁体内的导入量分布,根据Dy导入量分布计算磁体内的△HcJ的分布。对于不具有均匀矫顽力分布的磁体,使用计算出的△HcJ的分布计算J-H曲线,使用温度系数计算预定温度下的去磁因数。

    磁化分析方法和磁化分析装置

    公开(公告)号:CN101529265B

    公开(公告)日:2012-08-15

    申请号:CN200780039630.8

    申请日:2007-10-31

    IPC分类号: G01R33/12 G06F17/50 H01F13/00

    摘要: 能够考虑不完全磁化区域的磁化状态而进行高精度的磁化分析。磁化分析装置通过采用与磁化器相关的磁化器参数和与磁体材料相关的磁体参数进行磁场分析来计算施加于磁体材料的各部位的磁化磁场(S17),基于磁化磁场的计算结果和与不完全磁化区域相关的预先测量的退磁曲线,来计算作为与待分析的永磁体的不完全磁化区域相关的区域参数的回复相对导磁率和矫顽力(S18),通过使用区域参数的计算结果进行磁场分析,来计算表示待分析的永磁体的磁化状态的状态参数(S19)。