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公开(公告)号：CN110953996A
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201910760643.9
申请日：2019-08-16
Applicant: 日立金属株式会社
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明提供能够高精度地测量带有孔的轴的壁厚的系统以及制造方法。本发明的测量系统具有测定器、测量控制装置、与所述测量控制装置连接的测距装置。所述测定器具有：用于固定在所述加工装置的工具轴、刀具台或者尾座的基座；与所述基座连接的第一杆及第二杆；固定于各杆且将测定光照射于所述被测定物的第一测定头及第二测定头。而且，所述测量控制装置执行以下操作：(1)从所述测距装置获取从所述第一测定头到所述被测定物的孔的内周面为止的距离I，(2)从所述测距装置获取从所述第二测定头到所述被测定物的外周面为止的距离O，(3)基于所述距离I、距离O以及所述第一测定头与所述第二测定头的间隔来计算所述被测定物的壁厚。
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