公开(公告)号：CN101806913A

公开(公告)日：2010-08-18

申请号：CN200910259159.4

申请日：2009-12-15

Applicant: 日立电线株式会社

Inventor： 柳主铉 ,  须永义则 ,  川内秀贵 ,  井上慎一 ,  高桥勋

IPC: G01T1/24 ,  G01T7/00

CPC classification number: G01T1/243

Abstract: 本发明提供一种能够以高位置精度排列多个放射线检测器(1)的放射线检测器座(6)。本发明的放射线检测器座(6)具备：第一支撑体，以与检测放射线的多个放射线检测器(1)排列的间隔对应的预定间隔排列，并且具有多个放射线检测器(1)插入的多个第一槽；以及第二支撑体，以预定间隔排列并且具有多个放射线检测器(1)插入的多个第二槽，且与第一支撑体平行地配置。

公开(公告)号：CN101806914A

公开(公告)日：2010-08-18

申请号：CN200910259160.7

申请日：2009-12-15

Applicant: 日立电线株式会社

Inventor： 柳主铉 ,  须永义则 ,  川内秀贵 ,  井上慎一 ,  高桥勋

IPC: G01T1/24 ,  H01L27/144

CPC classification number: H01L31/1032 ,  H01L31/0203 ,  H01L31/0296

Abstract: 本发明提供一种能够以高密度排列、连接可靠性高的放射线检测器。放射线检测器(1)具备：可检测放射线的半导体元件；固定有半导体元件的基板；以及，具有与设置在半导体元件的基板的相反侧的元件用电极连接的连接图案且具有挠性的挠性基板(40)，半导体元件设置在基板的一个面上，挠性基板(40)设置在半导体元件的基板的相反侧。

公开(公告)号：CN101806915A

公开(公告)日：2010-08-18

申请号：CN200910259161.1

申请日：2009-12-15

Applicant: 日立电线株式会社

Inventor： 柳主铉 ,  须永义则 ,  川内秀贵 ,  川口常昭 ,  高桥勋 ,  井上慎一 ,  山田直之 ,  小林雅彦

IPC: G01T1/24

CPC classification number: G01T1/243

Abstract: 本发明提供一种能够以高密度排列的放射线检测器。本发明的放射线检测器(1)具备：可检测放射线的半导体元件；固定有半导体元件的基板(20)；以及用半导体元件的邻接部分支撑基板(20)的支撑部件。