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公开(公告)号:CN1291052C
公开(公告)日:2006-12-20
申请号:CN200410036828.9
申请日:2004-04-19
Applicant: 日矿金属株式会社
IPC: C22C9/06
Abstract: 提供一种兼具高强度及高导电性的电子材料用Cu-Ni-Si合金,其特征在于,在含有1.0~4.5质量%(以下为%)的Ni、0.25~1.5%的Si、其余是由Cu及不可避免的杂质构成的铜基合金中,在Ni和Si的质量浓度为[Ni]、[Si]时,Ni与Si的质量浓度比(以下为[Ni]/[Si])为4~6、并且是使(式1)所定义的x为0.1~0.45的[Ni]、[Si],([Ni]-4x)2([Si]-x)=1/8……(式1)。
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公开(公告)号:CN1897171A
公开(公告)日:2007-01-17
申请号:CN200610105676.2
申请日:2006-07-17
Applicant: 日矿金属株式会社
Abstract: 本发明的目的在于提供一种兼有必要且充分的导电率和强度,可适应电子设备部件的小型化、且低成本的铜合金。含有2~12质量%的Zn和0.1~1.0质量%的Sn,并将Sn的质量百分比浓度([%Sn])和Zn的质量百分比浓度([%Zn])的关系调整到0.5≤[%Sn]+0.16[%Zn]≤2.0的范围内,其余部分由铜和其不可避免的杂质构成,不可避免的杂质中S浓度小于等于30质量ppm、O浓度小于等于50质量ppm,在具有上述特征的铜合金中,能够以较低的成本获得:通过将晶粒形状和结晶方位调整到适当的范围内,从而具有大于等于35%IACS的电导率以及大于等于410MPa的拉伸强度,并可进行较差方式以及较好方式的180度贴合弯曲加工的铜合金。
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