应变变化测量装置和应变变化测量方法

    公开(公告)号:CN115702319A

    公开(公告)日:2023-02-14

    申请号:CN202080101927.8

    申请日:2020-06-22

    Abstract: 本发明提供应变变化测量装置和应变变化测量方法,目的在于以高采样率实施施加于分支后的各芯线的振动的分布测定。本发明的应变变化测量装置在参照时刻,将具有频率相对于时间而线性变化的啁啾的第一啁啾脉冲光入射到由耦合器分支的被测定光纤,取得相对于第一啁啾脉冲光的第一散射光的信号,在各监测时刻,将使啁啾与第一啁啾脉冲光在时间轴上反转的第二啁啾脉冲光入射到所述被测定光纤,取得相对于第二啁啾脉冲光的第二散射光的信号,求出使第一散射光的信号在时间轴上反转而且偏移的波形与第二散射光的信号的波形之间的相关成为最大的偏移量,并使用该偏移量来计算从参照时刻到各监测时刻的所述被测定光纤中的应变量的变化。

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