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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103515184B
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201310261620.6
申请日：2013-06-27
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 提供感应耦合等离子体装置、分光分析装置以及质量分析装置。感应耦合等离子体装置大幅降低等离子气体的消耗量。作为解决手段，该感应耦合等离子体装置具有：圆筒形状的罩，其与等离子体炬是分离的，具有足够包围到生成等离子体火焰的前端部的高度，该罩外嵌地配置在等离子体炬上；以及校正气体导入机构，其将用于校正等离子气体的流路的校正气体导入到在罩的内表面和等离子体炬的外管的外表面之间形成的间隙部。
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公开(公告)号：CN104931484A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510120573.2
申请日：2015-03-19
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
CPC classification number: G01N21/73 , G01J3/0216 , G01J3/024 , G01J3/443
Abstract: 公开了一种ICP发光分光分析装置。提供一种能够通过多个聚光部来除去存在于原子发光线周围的背景以谋求S/B比的提高的ICP发光分光分析装置。ICP发光分光分析装置(1)由感应耦合等离子体发生部(10)、聚光部(20)、分光器(30)以及控制部(50)大致构成。聚光部(20)被配置在感应耦合等离子体发生部(10)与分光器(30)之间，具备第一聚光部(21)、第二聚光部(22)、在聚光部(20)与分光器(30)的边界部处的狭缝型入射窗(23)以及在第一聚光部(21)与第二聚光部(22)之间的入射狭缝(24)。通过设置至少两个聚光部(21、22)和入射狭缝（24），从而能够除去存在于原子发光线周围的背景以提高原子发光线的信号对背景之比(S/B)。
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公开(公告)号：CN102235977B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201110086370.8
申请日：2011-03-29
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
IPC: G01N21/73
Abstract: 本发明涉及一种ICP分析装置及其分析方法，活用能进行高灵敏度测定但装置的劣化快的等离子体的发生轴方向测定和装置劣化少但灵敏度低的等离子体的横向测定中各测定的特征而能够进行高灵敏度且减轻了装置的劣化的倾斜方向测定。构成为：为了将所述等离子体喷灯设定为任意角度，以直线状对置地配置等离子体喷灯和聚光部时为基准，使至少一个相对于ICP分析装置中的聚光部的等离子体的光的取进方向转动，从而以任意角度对置。
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公开(公告)号：CN104949962A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201510088056.1
申请日：2015-02-26
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 田边英规
IPC: G01N21/73
Abstract: 本发明提供ICP发光分光分析装置，其通过与所测定的波长相应的适当的会聚透镜位置将原子发光线的损耗限制到最小限。ICP发光分光分析装置(1)大致由感应耦合等离子产生部(10)、会聚部(20)、分光器(30)和控制部(50)构成。会聚部(20)配置于感应耦合等离子产生部(10)与分光器(30)之间，具备会聚透镜(21)、入射窗(22)、驱动部(23)和位置运算部(24)。位置运算部(24)根据预先输入到控制部(50)的原子发光线的波长，运算会聚透镜(21)相对于感应耦合等离子产生部(10)以及分光器(30)在原子发光线的行进方向上的最优位置。驱动部(23)根据运算部(24)的运算结果使会聚透镜(21)移动到相对于特定波长最优化的位置。
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公开(公告)号：CN103515184A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310261620.6
申请日：2013-06-27
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 提供感应耦合等离子体装置、分光分析装置以及质量分析装置。感应耦合等离子体装置大幅降低等离子气体的消耗量。作为解决手段，该感应耦合等离子体装置具有：圆筒形状的罩，其与等离子体炬是分离的，具有足够包围到生成等离子体火焰的前端部的高度，该罩外嵌地配置在等离子体炬上；以及校正气体导入机构，其将用于校正等离子气体的流路的校正气体导入到在罩的内表面和等离子体炬的外管的外表面之间形成的间隙部。
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