公开(公告)号：CN114216658B

公开(公告)日：2024-02-09

申请号：CN202111533292.1

申请日：2021-12-15

Applicant: 无锡市德科立光电子技术股份有限公司

Inventor： 仇晨寅 ,  陈晓鹏 ,  周建华

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明涉及一种基于计算的光模块消光比调试方法。其包括如下步骤：步骤1、提供待调试的光模块；步骤2、将两个偏置电流DAC值写入待调试光模块的寄存器内；步骤3、确定发光效率η以及阈值电流Ith；步骤4、确定消光比目标值Er、平均光功率目标值P以及平均光功率下偏置电流Ibias；步骤5、确定低电平下功率P0以及高电平下功率P1；步骤6、确定调置电流Imod；步骤7、确定调置DAC值MOD_DAC并写入待调试光模块的寄存器中；步骤8、读取待调试光模块的当前消光比值，并将当前消光比大于消光比规格最小值以及消光比规格最大值比较。本发明能有效提高光模块消光比调试效率。

公开(公告)号：CN111970052B

公开(公告)日：2021-07-20

申请号：CN202010787056.1

申请日：2020-08-07

Applicant: 无锡市德科立光电子技术股份有限公司

Inventor： 仇晨寅

IPC: H04B10/079

Abstract: 本发明提供一种基于计算的光模块光功率调试方法，包括以下步骤：步骤S10，设定开环时两点偏置DAC初值；步骤S20，光功率先采用开环调试，将S10中的两个偏置DAC初值写入光模块的寄存器中，分别获取对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值；步骤S30，将S20中两点的光功率值和两个偏置电流值拟合直线；步骤S40，将光功率目标值代入上述直线方程，得出所需的偏置电流值Bias Current；步骤S50，得到光功率目标值对应的偏置DAC值BIAS_DAC；步骤S60，将上述BIAS_DAC写入光模块的寄存器中，读出输出光功率的功率监测值MPD_ADC；步骤S70，得到闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值APC_DAC；本发明可提高光功率调测的效率。

公开(公告)号：CN115508055A

公开(公告)日：2022-12-23

申请号：CN202211266188.5

申请日：2022-10-17

Applicant: 无锡市德科立光电子技术股份有限公司

Inventor： 仇晨寅 ,  陈硕 ,  王雪峰

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种自适应步进迭代的光模块消光比调试方法及装置，涉及光通信技术领域，该方法包括：设置待测光模块的消光比调试范围和消光比目标值，设置待测光模块中数模转换器的调试初值；将调试初值写入待测光模块的寄存器中，读取待测光模块的消光比当前值；若消光比当前值在消光比调试范围内，则待测光模块的消光比调试合格；否则，基于消光比目标值和消光比当前值，计算下一次调试所需的数模转换器的目标值；将数模转换器的目标值写入待测光模块的寄存器中，重新执行读取待测光模块的消光比当前值，实现迭代调试。避免了生产过程中频繁的人工干预操作，以达到减少光模块消光比的调试时间。

公开(公告)号：CN118174786A

公开(公告)日：2024-06-11

申请号：CN202410284247.4

申请日：2024-03-13

Applicant: 无锡市德科立光电子技术股份有限公司

Inventor： 仇晨寅 ,  陈硕 ,  王雪峰

IPC: H04B10/079

Abstract: 本发明涉及一种超长距光模块接收光功率监测范围的校准方法。其包括：将超长距光模块配置处于外部校准状态；对每个入光功率校准点进行采样，得到每个入光功率校准点相对应的入光校准采样值；基于上述入光功率校准点的功率转换到在计量单位μW下的入光校准转换功率，且对入光校准转换功率与入光校准采样值进行曲线拟合，以在拟合后得到拟合参数以及基于所述拟合参数下的监测拟合曲线；将上述的拟合参数写入超长距光模块的寄存器内；对上述的超长距光模块进行校准后的校验，其中，若校验不满足SFF‑8472协议，则调整上述的校准过程，直至校验满足SFF‑8472协议。本发可将超长距光模块的接收光功率监测范围从‑40dBm提升至‑50dBm。

公开(公告)号：CN114216658A

公开(公告)日：2022-03-22

申请号：CN202111533292.1

申请日：2021-12-15

Applicant: 无锡市德科立光电子技术股份有限公司

Inventor： 仇晨寅 ,  陈晓鹏 ,  周建华

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明涉及一种基于计算的光模块消光比调试方法。其包括如下步骤：步骤1、提供待调试的光模块；步骤2、将两个偏置电流DAC值写入待调试光模块的寄存器内；步骤3、确定发光效率η以及阈值电流Ith；步骤4、确定消光比目标值Er、平均光功率目标值P以及平均光功率下偏置电流Ibias；步骤5、确定低电平下功率P0以及高电平下功率P1；步骤6、确定调置电流Imod；步骤7、确定调置DAC值MOD_DAC并写入待调试光模块的寄存器中；步骤8、读取待调试光模块的当前消光比值，并将当前消光比大于消光比规格最小值以及消光比规格最大值比较。本发明能有效提高光模块消光比调试效率。