一种测量激光器光束参数的实验方法

    公开(公告)号:CN116296281A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310141293.4

    申请日:2023-02-21

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明提供了一种测量激光器光束参数的实验方法,涉及激光器光束参数测量技术领域,包括搭建光路、采集光斑、光斑去噪、采集灰度值、计算能量重心、获取有效半径、拟合函数和计算得到相应的数值;通过利用image J图像分析软件测量出光斑不同位置的灰度值,再利用所得参数代入公式进行双曲线拟合;接着求出拟合系数;进而得到待测激光器的束腰半径、束腰位置、光束发散角以及质量因子;采用傅里叶变换将干扰信号频率搬移到频谱两端并进行归零处理,消除干涉条纹对数据采集的影响;解决了现有操作方法中对激光光束的束腰位置、束腰半径、质量因子等参数无法获取的问题;同时本发明提供的方法操作简单,对测量仪器的要求较小可以降低实验成本。

    一种测量电子空穴复合发光速率的实验方法

    公开(公告)号:CN116482057A

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202310462499.7

    申请日:2023-04-26

    Applicant: 无锡学院

    Abstract: 本发明公开了一种测量电子空穴复合发光速率的实验方法,该实验方法的装置包括激光芯片(芯片水平两侧端面仅一端镀有增透膜)、平凸透镜、偏光镜、光纤耦合器、光纤及光谱仪。在芯片两侧的同一水平线上依次放置平凸透镜、偏光镜、平凸透镜、光纤耦合器,用光纤连接光纤耦合器与光谱仪。首先对激光芯片施加能量,芯片两侧会辐射发光,通过平凸透镜将两侧光谱分别聚焦到光纤耦合器,再通过光纤传输给光谱仪。通过转动偏光镜可选择不同的偏振光谱,获得横向电场/横向磁场模式下的特定光谱图像,最后将两端光谱数据带入建立的公式,即可计算出激光芯片电子和空穴的复合速率。

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