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公开(公告)号：CN114964523B
公开(公告)日：2023-07-25
申请号：CN202210609253.3
申请日：2022-05-31
Applicant: 无锡学院
Abstract: 本发明提供一种用于主动光学校正系统的波前传感器装调方法，包括以下步骤：S1：通过波前测试分别得到各个波前传感器的测试视场位置和测试波像差；S2：将各个波前传感器的测试视场位置可视化；S3：初步安装一波前传感工装；S4：使波前传感工装上的各个波前传感器位于对应的测试视场位置；S5：进行波像差测试，得到相应波前传感器的实际波像差；S6：将实际波像差与测试波像差进行对比，根据对比结果调整波前传感工装，直至对比结果小于预设的残差RMS阈值，从而最终完成精度测试组件的装调。本发明提供一种用于主动光学校正系统的波前传感器装调方法，解决了目前常用的主动光学校正系统在校正能力验证阶段难以将波前传感器安装到正确的视场位置的问题。
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公开(公告)号：CN115616765A
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202211428230.9
申请日：2022-11-15
Applicant: 无锡学院
Abstract: 一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置，包括激光干涉仪、多维调整台、波像差测量组件和平面镜，激光干涉仪放置在光学望远镜的外部用于向光学望远镜的内部发射测试光，以检测多个视场的波像差数据；多维调整台用于调整光学望远镜中光学元件位置、角度，以模拟望远镜成像质量下降的情况；波像差测量组件设置在望远镜的像面处用于测量光学望远镜成像质量下降后的波像差，平面镜用于反射测试光。本发明涉及一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试方法，通过对比模拟像质下降时和校正时光学元件的位移量和转动角度判断主动光学校正系统的校正精度，对比模拟像质下降前和校正时后的波像差，判断校正后的像质是否达到模拟像质下降前的像质。
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公开(公告)号：CN114964523A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210609253.3
申请日：2022-05-31
Applicant: 无锡学院
Abstract: 本发明提供一种用于主动光学校正系统的波前传感器装调方法，包括以下步骤：S1：通过波前测试分别得到各个波前传感器的测试视场位置和测试波像差；S2：将各个波前传感器的测试视场位置可视化；S3：初步安装一波前传感工装；S4：使波前传感工装上的各个波前传感器位于对应的测试视场位置；S5：进行波像差测试，得到相应波前传感器的实际波像差；S6：将实际波像差与测试波像差进行对比，根据对比结果调整波前传感工装，直至对比结果小于预设的残差RMS阈值，从而最终完成精度测试组件的装调。本发明提供一种用于主动光学校正系统的波前传感器装调方法，解决了目前常用的主动光学校正系统在校正能力验证阶段难以将波前传感器安装到正确的视场位置的问题。
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