公开(公告)号：CN102159940A

公开(公告)日：2011-08-17

申请号：CN200880131156.6

申请日：2008-09-17

Applicant: 新日本制铁株式会社

Inventor： 中川淳一 ,  伊藤忠幸 ,  西山铁生 ,  土岐正弘 ,  齐藤孝三 ,  B·加拉伯 ,  蔡康恩 ,  A·塞拉迈 ,  山本昌宏 ,  竹内知哉 ,  伊东一文 ,  黄华雄 ,  S·C·博亨

IPC: G01N25/72

CPC classification number: G01N25/72

Abstract: 一种能够检测位于移动材料的表面上或者表面层中的缺陷的方法，包括步骤：加热所述材料的所述表面；在所述加热步骤中所述材料的所述表面正在加热或者在加热之后所述材料的所述表面正在冷却的同时，使用红外热成像相机获得所述材料的所述表面的热图像数据；以及通过针对由所述热图像数据表示的所述表面的温度计算拉普拉斯算子来检测所述缺陷。在所述材料正在加热的同时获得所述热图像数据时，加热设备和所述相机设置为使得从所述加热设备发出的热能由所述材料反射进入所述相机中。