公开(公告)号：CN107907053A

公开(公告)日：2018-04-13

申请号：CN201711316888.X

申请日：2017-12-12

Applicant: 扬州大学

Inventor： 朱兴龙 ,  罗珺瑶 ,  朱子洵 ,  高征兵 ,  宣胜 ,  张志高 ,  尹兵 ,  王建堂 ,  刘永智

IPC: G01B11/02

CPC classification number: G01B11/02

Abstract: 本发明提供了测量技术领域内的一种微位移测量系统，包括底座，底座上固连有安装板，安装板上连接有照相设备的本体，照相设备的镜头可相对照相设备的本体移动，安装板上还连接有激光支架，激光支架上连接有激光器，在前后方向上，激光支架设置在照相设备的一侧；底座上设有直线移动机构，直线移动机构上连接有可作往复直线运动的移动靶，在长度方向上，移动靶相对镜头设置；本发明结构简单，使用本系统可获取清晰的图像，方便后期图像处理。