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公开(公告)号：CN221946045U
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202323535480.5
申请日：2023-12-25
Applicant: 成都市德科立菁锐光电子技术有限公司 , 无锡市德科立光电子技术股份有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种光模块老化测试设备，属于光电测试技术领域，包括主控模块、光模块测试模块、TEC温控加热模块、数据传输模块、以太网通信模块和屏幕显示模块；所述主控模块分别与光模块测试模块、TEC温控加热模块、数据传输模块、以太网通信模块双向通信连接；所述主控模块与屏幕显示模块连接；所述TEC温控加热模块为光模块测试模块供热。本实用新型通过采用小型轻便且廉价的TEC光模块老化测试设备，提供了数据传输模块、以太网通信模块和光模块测试模块，解决了现有光模块老化测试的接口单一和无法单独关断和反馈缺陷光模块的问题。
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