具有动态耦合到漏极的本体的NMOS晶体管

    公开(公告)号:CN111490697B

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202010066344.8

    申请日:2020-01-20

    IPC分类号: H02M7/537 H02M1/32 H01L27/02

    摘要: 本公开的实施例涉及具有动态耦合到漏极的本体的NMOS晶体管。一种电路包括逻辑电路和驱动器。该驱动器包括第一NMOS、PAD以及驱动器保护电路,第一NMOS具有耦合到逻辑电路的栅极和耦合到参考电压的源极,PAD耦合到第一NMOS的漏极。该驱动器保护电路包括第二NMOS和电阻器,第二NMOS具有通过电容器耦合到PAD的漏极、耦合到参考电压的源极以及耦合到电源电压的栅极,电阻器耦合在第二NMOS的漏极和第一NMOS的本体之间。当静电放电(ESD)事件升高相对于参考电压或电源电压的PAD处的电位时,电源电压转换为低电平,使得第二NMOS关断,导致第一NMOS的本体与参考电压隔离并且使用电容器将其本体与PAD耦合。

    具有动态耦合到漏极的本体的NMOS晶体管

    公开(公告)号:CN111490697A

    公开(公告)日:2020-08-04

    申请号:CN202010066344.8

    申请日:2020-01-20

    IPC分类号: H02M7/537 H02M1/32 H01L27/02

    摘要: 本公开的实施例涉及具有动态耦合到漏极的本体的NMOS晶体管。一种电路包括逻辑电路和驱动器。该驱动器包括第一NMOS、PAD以及驱动器保护电路,第一NMOS具有耦合到逻辑电路的栅极和耦合到参考电压的源极,PAD耦合到第一NMOS的漏极。该驱动器保护电路包括第二NMOS和电阻器,第二NMOS具有通过电容器耦合到PAD的漏极、耦合到参考电压的源极以及耦合到电源电压的栅极,电阻器耦合在第二NMOS的漏极和第一NMOS的本体之间。当静电放电(ESD)事件升高相对于参考电压或电源电压的PAD处的电位时,电源电压转换为低电平,使得第二NMOS关断,导致第一NMOS的本体与参考电压隔离并且使用电容器将其本体与PAD耦合。

    包括具有动态耦合到漏极的本体的NMOS晶体管的电路

    公开(公告)号:CN211830608U

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN202020130380.1

    申请日:2020-01-20

    IPC分类号: H02M7/537 H02M1/32 H01L27/02

    摘要: 本公开的实施例涉及包括具有动态耦合到漏极的本体的NMOS晶体管的电路。一种电路包括逻辑电路和驱动器。该驱动器包括第一NMOS、PAD以及驱动器保护电路,第一NMOS具有耦合到逻辑电路的栅极和耦合到参考电压的源极,PAD耦合到第一NMOS的漏极。该驱动器保护电路包括第二NMOS和电阻器,第二NMOS具有通过电容器耦合到PAD的漏极、耦合到参考电压的源极以及耦合到电源电压的栅极,电阻器耦合在第二NMOS的漏极和第一NMOS的本体之间。当静电放电(ESD)事件升高相对于参考电压或电源电压的PAD处的电位时,电源电压转换为低电平,使得第二NMOS关断,导致第一NMOS的本体与参考电压隔离并且使用电容器将其本体与PAD耦合。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利