专利检索 ap:("意法半导体国际有限公司") AND inv:"U·C·斯利瓦斯塔瓦" 第 1 页

1.

发明公开
用于扫描测试的电路和方法审中-实审

公开(公告)号：CN116794494A

公开(公告)日：2023-09-22

申请号：CN202310271696.0

申请日：2023-03-20

申请人： 意法半导体国际有限公司

发明人： V·N·斯里尼瓦桑 , M·沙玛 , S·K·瓦特斯 , U·C·斯利瓦斯塔瓦

IPC分类号： G01R31/3185

摘要： 在一个实施例中，一种用于执行扫描测试的方法包括：生成第一扫描时钟信号和第二扫描时钟信号；将第一扫描时钟信号和第二扫描时钟信号分别提供给第一扫描链和第二扫描链，其中当扫描使能信号被断言时，第一扫描时钟信号和第二扫描时钟信号包括相应第一移位脉冲，并且当扫描使能信号被解除断言时，第一扫描时钟信号和第二扫描时钟信号包括相应第一捕获脉冲，其中第一扫描时钟信号和第二扫描时钟信号的第一移位脉冲对应于第一时钟信号的第一时钟脉冲，其中第一扫描时钟信号的第一捕获脉冲对应于第一时钟信号的第二时钟脉冲，并且其中第二扫描时钟信号的第一捕获脉冲对应于与第一时钟信号不同的第二时钟信号的第一时钟脉冲。