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公开(公告)号：CN104142485B
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201310172424.1
申请日：2013-05-08
申请人： 意法半导体(中国)投资有限公司
IPC分类号： G01V3/40
CPC分类号： G01R33/0035
摘要： 本申请公开了一种用于校准磁传感器的方法和装置。所述方法包括获取多个磁场测量值；将所述多个磁场测量值中的至少一部分代入椭球体模型，以获得所述椭球体模型的中心坐标；根据所述椭球体模型的中心坐标，确定用于校准的偏移量；以及利用所述用于校准的偏移量，对所述磁传感器进行校准。用于执行所述方法的磁传感器，包括获取模块，用于获取多个磁场测量值；控制模块，用于将所述多个磁场测量值的至少一部分代入椭球体模型，从而获得所述椭球体模型的中心坐标，以及根据所述椭球体模型的中心坐标，确定用于校准的偏移量；以及校准模块，用于基于所述用于校准的偏移量来对所述磁传感器进行校准。
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公开(公告)号：CN104142485A
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：CN201310172424.1
申请日：2013-05-08
申请人： 意法半导体(中国)投资有限公司
IPC分类号： G01R35/00
CPC分类号： G01R33/0035
摘要： 本申请公开了一种用于校准磁传感器的方法和装置。所述方法包括获取多个磁场测量值；将所述多个磁场测量值中的至少一部分代入椭球体模型，以获得所述椭球体模型的中心坐标；根据所述椭球体模型的中心坐标，确定用于校准的偏移量；以及利用所述用于校准的偏移量，对所述磁传感器进行校准。用于执行所述方法的磁传感器，包括获取模块，用于获取多个磁场测量值；控制模块，用于将所述多个磁场测量值的至少一部分代入椭球体模型，从而获得所述椭球体模型的中心坐标，以及根据所述椭球体模型的中心坐标，确定用于校准的偏移量；以及校准模块，用于基于所述用于校准的偏移量来对所述磁传感器进行校准。
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公开(公告)号：CN102997913B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201110281435.4
申请日：2011-09-14
申请人： 意法半导体(中国)投资有限公司
发明人： 涂仲轩
CPC分类号： G06F19/00 , G01C21/165 , G06F17/50
摘要： 本发明公开了一种用于确定物体姿态的方法及装置。该用于确定物体姿态的方法包括接收重力加速度信号以及地磁场信号，所述重力加速度信号与所述地磁场信号响应于物体的姿态的变化而变化；基于所述重力加速度信号确定物体坐标系中的重力场表示，基于所述地磁场信号确定物体坐标系中的地磁场表示；基于所述物体坐标系中的所述重力场表示与所述地磁场表示计算所述物体坐标系与地球坐标系之间的坐标系转换参数；基于所述坐标系转换参数确定所述物体的姿态。
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公开(公告)号：CN102997913A
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201110281435.4
申请日：2011-09-14
申请人： 意法半导体(中国)投资有限公司
发明人： 涂仲轩
CPC分类号： G06F19/00 , G01C21/165 , G06F17/50
摘要： 本发明公开了一种用于确定物体姿态的方法及装置。该用于确定物体姿态的方法包括接收重力加速度信号以及地磁场信号，所述重力加速度信号与所述地磁场信号响应于物体的姿态的变化而变化；基于所述重力加速度信号确定物体坐标系中的重力场表示，基于所述地磁场信号确定物体坐标系中的地磁场表示；基于所述物体坐标系中的所述重力场表示与所述地磁场表示计算所述物体坐标系与地球坐标系之间的坐标系转换参数；基于所述坐标系转换参数确定所述物体的姿态。
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公开(公告)号：CN102997933A
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201110281440.5
申请日：2011-09-14
申请人： 意法半导体(中国)投资有限公司
发明人： 涂仲轩
IPC分类号： G01C25/00
CPC分类号： G01C19/00 , G01C25/005
摘要： 本发明涉及一种确定陀螺仪零偏误差的方法，一种确定陀螺仪零偏误差的装置以及包括该装置的系统。该方法包括以下步骤：a.获取陀螺仪的一组输出；b.确定所述输出的离散度；c.判断所述离散度是否满足预定条件，并且基于所述判断结果执行步骤d或e；d.当所述离散度满足预定条件时，将所述输出的平均值确定为所述陀螺仪的零偏误差；e.当所述离散度不满足所述预定条件时，获取所述陀螺仪的另一组输出，并且对所述另一组输出重复执行上述步骤b至c。
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公开(公告)号：CN102997933B
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201110281440.5
申请日：2011-09-14
申请人： 意法半导体(中国)投资有限公司
发明人： 涂仲轩
IPC分类号： G01C25/00
CPC分类号： G01C19/00 , G01C25/005
摘要： 本发明涉及一种确定陀螺仪零偏误差的方法，一种确定陀螺仪零偏误差的装置以及包括该装置的系统。该方法包括以下步骤：a.获取陀螺仪的一组输出；b.确定所述输出的离散度；c.判断所述离散度是否满足预定条件，并且基于所述判断结果执行步骤d或e；d.当所述离散度满足预定条件时，将所述输出的平均值确定为所述陀螺仪的零偏误差；e.当所述离散度不满足所述预定条件时，获取所述陀螺仪的另一组输出，并且对所述另一组输出重复执行上述步骤b至c。
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公开(公告)号：CN104237822A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201310253435.2
申请日：2013-06-20
申请人： 意法半导体(中国)投资有限公司
CPC分类号： G01C17/38 , G01C17/28 , G01R33/007 , G01R33/0082
摘要： 本发明描述了用于在磁性感测设备中补偿硬铁和软铁磁性干扰的装置和方法。可以使用由多个磁场测量产生的椭圆体表面来模拟硬铁干扰和软铁干扰。椭圆体与参照系之间的位移对应于硬铁或永磁场干扰。椭圆体的形状和定向对应于软铁磁场干扰。可以分析椭圆体表面以获得用于消除硬铁和软铁干扰的磁场补偿值。
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公开(公告)号：CN203587782U
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201320364666.6
申请日：2013-06-20
申请人： 意法半导体(中国)投资有限公司
IPC分类号： G01R33/02
摘要： 本实用新型描述了一种被配置为感测磁场的电子设备，包括：磁力计，被配置为测量沿着至少一个轴线的外部磁场的至少一个值；以及至少一个处理器，被配置为从磁力计接收磁场数据并且计算椭圆体的至少一个参数，其中磁场数据由椭圆体表示。可以使用由多个磁场测量产生的椭圆体表面来模拟硬铁干扰和软铁干扰。椭圆体与参照系之间的位移对应于硬铁或永磁场干扰。椭圆体的形状和定向对应于软铁磁场干扰。可以分析椭圆体表面以获得用于消除硬铁和软铁干扰的磁场补偿值。
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