公开(公告)号：CN101889195B

公开(公告)日：2013-05-22

申请号：CN200880119157.9

申请日：2008-12-02

Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司

Inventor： 哈孔·米克尔森 ,  安德烈亚斯·米勒 ,  帕特里克·亨齐

IPC: G01N21/55

CPC classification number: G01N21/552 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/434 ,  G01N2201/08

Abstract: ATR探针包括：整体的ATR体(2)，其具有可被施加介质的表面区段(24)；发射光导组件(1)，用于将非准直的光入射到ATR体(2)内；接收光导组件(3)，用于接收通过ATR体后的入射光，其中，光通过ATR体包括在ATR体的接触介质的表面(24)上的至少两次全反射；其特征在于，用于接收从ATR体出来的光的接收光导组件的面积大于用于将光入射到ATR体内的发射光导组件的面积。ATR体(2)最好包括至少一个具有锥形或截锥形表面(24)的区段，且截锥形的表面至少可以部分地被施加介质。

公开(公告)号：CN102539342A

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：CN201110430288.2

申请日：2011-12-20

Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司

Inventor： 哈孔·米克尔森 ,  拉尔夫·伯恩哈特

IPC: G01N21/25 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01N21/35 ,  G01J3/0227 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/26 ,  G01J3/32 ,  G01J3/42 ,  G01N21/552

Abstract: 本发明涉及一种用于测量光学传感器光谱的方法和设备，其中光束(2)照射到与要测量的介质接触的光学传感器(3)上，其中光学传感器(3)发射由于要测量的介质而改变的测量束(4)，并且测量束(4)被馈送到热探测器(8)，该热探测器(8)发出与光谱相对应的输出信号；其中测量信号(4)的强度在照射到热探测器(8)上之前被调制。为了提供成本有效的不受震动影响的具有长使用期的测量设备，通过调整包含在测量束(4)的光谱中的波长而发生测量束(4)的强度调制。

公开(公告)号：CN101889195A

公开(公告)日：2010-11-17

申请号：CN200880119157.9

申请日：2008-12-02

Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司

Inventor： 哈孔·米克尔森 ,  安德烈亚斯·米勒 ,  帕特里克·亨齐

IPC: G01N21/55

CPC classification number: G01N21/552 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/434 ,  G01N2201/08

Abstract: ATR探针包括：整体的ATR体(2)，其具有可被施加介质的表面区段(24)；发射光导组件(1)，用于将非准直的光入射到ATR体(2)内；接收光导组件(3)，用于接收通过ATR体后的入射光，其中，光通过ATR体包括在ATR体的接触介质的表面(24)上的至少两次全反射；其特征在于，用于接收从ATR体出来的光的接收光导组件的面积大于用于将光入射到ATR体内的发射光导组件的面积。ATR体(2)最好包括至少一个具有锥形或截锥形表面(24)的区段，且截锥形的表面至少可以部分地被施加介质。