用于确定介质的测量变量、特别是用于浊度测量的方法

    公开(公告)号:CN102590146A

    公开(公告)日:2012-07-18

    申请号:CN201110447101.X

    申请日:2011-12-28

    CPC classification number: G01N21/49

    Abstract: 本发明涉及用于确定介质的测量变量、特别是用于浊度测量的方法,该方法通过具有至少一个发射机(S)和至少一个接收机(E)的光学传感器设备(1)确定介质(M)的测量变量的测量值,包括下述步骤:-向至少一个发射机(S)提供激励器信号,该激励器信号用于生成具有传输信号强度的光发射机信号(2),其中该发射机信号(2)通过与作为测量变量的函数的该介质的相互作用转换为改变的发射机信号(3);-通过至少一个接收机从变换的发射机信号生成接收机信号,并记录该接收机信号强度;-基于记录的接收机信号,使激励信号强度达到预定的接收机信号强度;并且-记录达到预定的接收机信号强度所需要的激励信号强度,并且从此确定测量值。

    校准浊度测量传感器的方法

    公开(公告)号:CN103575706A

    公开(公告)日:2014-02-12

    申请号:CN201310341781.6

    申请日:2013-08-07

    CPC classification number: G01F25/00 G01N21/4785 G01N21/49 G01N33/18

    Abstract: 本发明涉及一种校准测量介质的浊度和/或固体含量的传感器的方法,其中,该传感器包括至少一个发射单元和至少两个接收单元,其中,该方法包括下列步骤:探测至少两个测量信号(1),该测量信号取决于在介质中散射的光的强度,其中,光从发射单元发出,并且光被接收单元接收,将测量信号抽象为特征向量(2),基于特征向量(2)自动选择校准模型(5a、5b、5..),其中,将特征向量(2)传输至早先受训分类器(3),并且分类器(3)将校准模型(5a、5b、5..)和特征向量(2)相关联,以及用自动选择的校准模型(5a、5b、5..)来校准(6)传感器。

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