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公开(公告)号：CN1466674A
公开(公告)日：2004-01-07
申请号：CN01816386.6
申请日：2001-09-19
申请人： 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司 , 米夏埃尔·凯斯勒
IPC分类号： G01F23/284
CPC分类号： G01F23/2845
摘要： 本发明涉及用于测定带有已知介电常数物料的极限料位的方法和装置，本发明使用支架，其中设置导电棒，当达到极限料位时浸入所要监测的物料中，并与一电路连接。该电路产生高频发射脉冲，它们按照时域反射测量法原理通过导线传送到棒上。物料临界层上向空气中反射的信号借助其曲线形状计值。
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公开(公告)号：CN1250944C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN01816386.6
申请日：2001-09-19
申请人： 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司 , 米夏埃尔·凯斯勒
IPC分类号： G01F23/284
CPC分类号： G01F23/2845
摘要： 本发明涉及用于测定带有已知介电常数物料的极限料位的方法和装置，本发明使用支架，其中设置导电棒，当达到极限料位时浸入所要监测的物料中，并与一电路连接。该电路产生高频发射脉冲，它们按照时域反射测量法原理通过导线传送到棒上。物料临界层上向空气中反射的信号借助其曲线形状计值。
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公开(公告)号：CN1213285C
公开(公告)日：2005-08-03
申请号：CN00816110.0
申请日：2000-10-15
申请人： 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
IPC分类号： G01F23/284
CPC分类号： G01F23/284
摘要： 本发明涉及提高一个时域反射器的抗干扰性，尤其是抗高频辐射的性能的方法和电路。其中以一个脉冲重复频率(fprf)产生一个发射脉冲(Xs)，并将其送入一个波导线(4)中，其中由一个位置与波导线(4)相对固定的反射器(14)反射回来并在波导线(4)上反向传播的信号(Xsonde)被用一个以检测频率(fA)重复的检测脉冲(XA)取样，形成作为反射图的时间延伸图，并且由反射图动态求出测量值，它包含从反射器(14)到连接器的距离。检测频率(fA)和脉冲重复频率(fnrf)被改变，其中不是反射图的时间延伸图保持不变，就是在反射图的时间变化中，时间延伸的改变是已知的，并且在评估此图时被考虑，此后从至少一个反射图或其一部分的测量中确定干扰大小。为了判断测量值的可用性，采用一个算法，它由测量值和干扰大小确定反射图是否不再被干扰，使得一个足够的测量精度被达到。一个具有一个触发产生器(1)的电路用于实施此方法。
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公开(公告)号：CN1437700A
公开(公告)日：2003-08-20
申请号：CN00816110.0
申请日：2000-10-15
申请人： 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
IPC分类号： G01F23/284
CPC分类号： G01F23/284
摘要： 本发明涉及提高一个时域反射器的抗干扰性，尤其是抗高频辐射的性能的方法和电路。其中以一个脉冲重复频率(fprf)产生一个发射脉冲(Xs)，并将其送入一个波导线(4)中，其中由一个位置与波导线(4)相对固定的反射器(14)反射回来并在波导线(4)上反向传播的信号(Xsonde)被用一个以检测频率(fA)重复的检测脉冲(XA)取样，形成作为反射图的时间延伸图，并且由反射图动态求出测量值，它包含从反射器(14)到连接器的距离。检测频率(fA)和脉冲重复频率(fprf)被改变，其中不是反射图的时间延伸图保持不变，就是在反射图的时间变化中，时间延伸的改变是已知的，并且在评估此图时被考虑，此后从至少一个反射图或其一部分的测量中确定干扰大小。为了判断测量值的可用性，采用一个算法，它由测量值和干扰大小确定反射图是否不再被干扰，使得一个足够的测量精度被达到。一个具有一个触发产生器(1)的电路用于实施此方法。
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