硼和碳膜的催化形成
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115605978A

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202180035497.9

    申请日:2021-03-15

    Abstract: 半导体处理的示范性方法可包括:将含硼前驱物提供至半导体处理腔室的处理区域。基板可设置在半导体处理腔室的处理区域内。这些方法可包括:将含碳前驱物提供至该半导体处理腔室的该处理区域。该含碳前驱物可特征在于碳‑碳双键或碳‑碳三键。这些方法可包括:使该含硼前驱物和该含碳前驱物在低于约650℃的温度下热反应。这些方法可包括:在该基板上形成含硼和碳的层。

Patent Agency Ranking