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公开(公告)号:CN115856062A
公开(公告)日:2023-03-28
申请号:CN202211630362.X
申请日:2022-12-19
Applicant: 广州禾信仪器股份有限公司
IPC: G01N27/62
Abstract: 本发明公开了一种质谱仪采集卡测试与仪器参数优化的方法、装置、设备、介质及程序产品,属于质谱检测技术领域。该方法包括S1:进行数据采集卡的单模块测试;S11:对比采集卡的参数的实测值与参数的说明值之间的差异,判断采样率是否一致;S12:根据采样率的对比结果对应不同的操作:S2:整机测试;S21:将采集卡采集的谱图的特征峰的质荷比与其飞行时间比较,根据比较结果对应不同的操作;S22:进行仪器性能测试,检测采集的特征峰的分辨率;根据测试结果对应进行不同的操作;S3:固化参数。上述方法能够使采集卡与质谱仪兼容并使质谱仪的性能得到优化,有利于提高质谱仪的分辨率,使仪器检出限稳定,结果获取较易。