公开(公告)号：CN105588536B

公开(公告)日：2018-09-28

申请号：CN201510541400.8

申请日：2015-08-27

Applicant: 广东通宇通讯股份有限公司

Inventor： 窦华土 ,  张君 ,  赵李刚 ,  阳恩主 ,  周亦恒

IPC: G01B21/30

Abstract: 本发明公开了一种天线反射面表面精度的测量装置，包括：固定座，用于安装固定待测天线反射面；检测机构，所述检测机构相对所述固定座设置，用于对安装固定于所述固定座的待测天线反射面上至少一组测试点的表面平整度相应进行测量。通过上述实施方式，其结构简单，能够同步且自动的一次性精确测量天线反射面上多个测试点的表面平整度。

公开(公告)号：CN105588536A

公开(公告)日：2016-05-18

申请号：CN201510541400.8

申请日：2015-08-27

Applicant: 广东通宇通讯股份有限公司

Inventor： 窦华土 ,  张君 ,  赵李刚 ,  阳恩主 ,  周亦恒

IPC: G01B21/30

Abstract: 本发明公开了一种天线反射面表面精度的测量装置，包括：固定座，用于安装固定待测天线反射面；检测机构，所述检测机构相对所述固定座设置，用于对安装固定于所述固定座的待测天线反射面上至少一组测试点的表面平整度相应进行测量。通过上述实施方式，其结构简单，能够同步且自动的一次性精确测量天线反射面上多个测试点的表面平整度。