基于特高频信号的局部放电检测方法、装置、设备和系统

    公开(公告)号:CN109375074B

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN201811365041.5

    申请日:2018-11-16

    Abstract: 本发明涉及一种基于特高频信号的局部放电检测方法、装置、设备及系统,其中基于特高频信号的局部放电检测方法包括:设置至少两个天线阵列,每个天线阵列包括多个阵元天线;获取每个阵元天线在预设三维坐标系中的坐标值;根据多个阵元天线的坐标值及各阵元天线测得特高频电磁波信号的时间差,计算局部放电源相对于至少两个天线阵列的方位角及俯仰角;根据方位角及俯仰角计算局部放电源在三维坐标系中的坐标值。上述基于特高频信号的局部放电检测方法,能够计算局部放电源相对于各天线阵列的方位角和俯仰角,进而计算局部放电源的三维坐标值,准确定位局部放电源的位置,从而提升带电检测局部放电位置的准确性和设备运行可靠性。

Patent Agency Ranking