用于表面电位测量的可伸缩探头装置

    公开(公告)号:CN109239475B

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN201811214796.5

    申请日:2018-10-18

    Abstract: 本发明提供用于表面电位测量的可伸缩探头装置,包括壳体、探芯、触头和接地端子,壳体上设置有导向结构,探芯滑动设置于导向结构上,壳体与触头以及接地端子连接,探芯与触头滑动抵接,且探芯活动抵接于接地端子上。通过将探芯抵接于待测物体上以对表面电位进行测量,滑动探芯,使得探芯缩回至壳体上,使得探芯远离待测物体的表面,避免移动用于表面电位测量的可伸缩探头装置时探芯影响待测物体的表面电位,同时,探芯缩回至壳体上时,探芯抵接于接地端子,释放探芯上的残留电位,当再次通过探芯对待测物体进行测试时,能避免探芯上的残留电位影响下个位置的表面电位,从而进一步地避免探芯影响待测物体的表面电位。

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