绝缘子串耐雷水平的仿真方法

    公开(公告)号:CN101216525B

    公开(公告)日:2010-04-21

    申请号:CN200810046655.7

    申请日:2008-01-09

    Abstract: 本发明涉及一种仿真方法,尤其是涉及一种绝缘子串耐雷水平的仿真方法。绝缘子串耐雷水平的仿真方法,基于先导发展速度计算公式:以及先导长度计算公式:XL=∫VLdt,它是一种在应用先导法判断绝缘子串或间隙在外过电压作用下闪络,进而求得耐雷水平地仿真方法。本发明具有如下优点:计算精度高,误差小不会造成结果偏松或者偏严。

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