基于深度学习的光学自干涉数字全息重构方法及系统

    公开(公告)号:CN116147531A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211696054.7

    申请日:2022-12-28

    摘要: 本发明涉及光学自干涉数字全息技术领域,尤其涉及一种基于深度学习的光学自干涉数字全息重构方法及系统。本发明提出了一种以U‑Net为基础的端对端的神经网络直接实现菲涅尔非相干相关数字全息单次曝光相位重构的方法,其中,菲涅尔全息图通过光路采集,可以提高成像速度,加快网络的训练速度,同时,训练得到的全息重构模型,能够在单幅菲涅尔全息图的条件下,实现样品的相位重构,因此减少了环境的干扰以及振动的影响,提高了动态测量下的可用性。

    基于无监督学习的弱导电材料扫描电镜图像处理方法

    公开(公告)号:CN118115390A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410278993.2

    申请日:2024-03-12

    摘要: 本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种基于无监督学习的弱导电材料扫描电镜图像处理方法,该方法构建了一种基于双向循环生成对抗网络CycleGAN的无监督学习网络模型提升弱导电材料扫描电子显微镜成像质量,该方法使用不配对数据训练网络,无需一一对应的清晰和模糊图像,使得数据集制作更加方便和简单,且基于生成对抗网络这一模型,无需经过任何物理上的复杂操作即可快速、方便、有效获取到弱导电材料的清晰扫描电子显微镜图像,提高了图像处理效率。

    基于无监督学习的弱导电材料扫描电镜图像处理方法

    公开(公告)号:CN118115390B

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410278993.2

    申请日:2024-03-12

    摘要: 本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种基于无监督学习的弱导电材料扫描电镜图像处理方法,该方法构建了一种基于双向循环生成对抗网络CycleGAN的无监督学习网络模型提升弱导电材料扫描电子显微镜成像质量,该方法使用不配对数据训练网络,无需一一对应的清晰和模糊图像,使得数据集制作更加方便和简单,且基于生成对抗网络这一模型,无需经过任何物理上的复杂操作即可快速、方便、有效获取到弱导电材料的清晰扫描电子显微镜图像,提高了图像处理效率。

    基于深度学习的光学自干涉数字全息重构方法及系统

    公开(公告)号:CN116147531B

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202211696054.7

    申请日:2022-12-28

    摘要: 本发明涉及光学自干涉数字全息技术领域,尤其涉及一种基于深度学习的光学自干涉数字全息重构方法及系统。本发明提出了一种以U‑Net为基础的端对端的神经网络直接实现菲涅尔非相干相关数字全息单次曝光相位重构的方法,其中,菲涅尔全息图通过光路采集,可以提高成像速度,加快网络的训练速度,同时,训练得到的全息重构模型,能够在单幅菲涅尔全息图的条件下,实现样品的相位重构,因此减少了环境的干扰以及振动的影响,提高了动态测量下的可用性。