公开(公告)号：CN102645157B

公开(公告)日：2014-07-09

申请号：CN201210134755.1

申请日：2012-05-03

Applicant: 常州机电职业技术学院

Inventor： 金佳琳 ,  虞文武 ,  林俊明

IPC: G01B7/26

Abstract: 本发明涉及无损检测领域，尤其涉及一种用于检测材质为40Cr的回转支承淬透层的涡流检测探头，包括绕组单元（2）和封装绕组单元的外壳（3）；所述绕组单元（2）包括磁芯（2-1），绕在磁芯（2-1）上检测线圈（2-2）和绕在检测线圈（2-2）上的激励线圈（2-3）；所述外壳（3）的上部设有通孔（4），下部设有空腔（5）；所述绕组单元（2）被封装在所述空腔（5）内；所述激励线圈（2-3）由直径为0.14~0.16mm的漆包铜线绕制445~450匝形成；检测线圈（2-2）由直径为0.05~0.07mm的漆包铜线绕制1400~1500匝形成。采用上述技术方案后，克服了涡流检测探头对材质为40Cr的回转支承表面淬火层识别不敏感，容易漏检的技术问题。

公开(公告)号：CN102645157A

公开(公告)日：2012-08-22

申请号：CN201210134755.1

申请日：2012-05-03

Applicant: 常州机电职业技术学院

Inventor： 金佳琳 ,  虞文武 ,  林俊明

IPC: G01B7/26

Abstract: 本发明涉及无损检测领域，尤其涉及一种用于检测材质为40Cr的回转支承淬透层的涡流检测探头，包括绕组单元（2）和封装绕组单元的外壳（3）；所述绕组单元（2）包括磁芯（2-1），绕在磁芯（2-1）上检测线圈（2-2）和绕在检测线圈（2-2）上的激励线圈（2-3）；所述外壳（3）的上部设有通孔（4），下部设有空腔（5）；所述绕组单元（2）被封装在所述空腔（5）内；所述激励线圈（2-3）由直径为0.14~0.16mm的漆包铜线绕制445~450匝形成；检测线圈（2-2）由直径为0.05~0.07mm的漆包铜线绕制1400~1500匝形成。采用上述技术方案后，克服了涡流检测探头对材质为40Cr的回转支承表面淬火层识别不敏感，容易漏检的技术问题。

公开(公告)号：CN202562433U

公开(公告)日：2012-11-28

申请号：CN201220195680.3

申请日：2012-05-03

Applicant: 常州机电职业技术学院

Inventor： 金佳琳 ,  虞文武 ,  林俊明

IPC: G01B7/26

Abstract: 本实用新型涉及无损检测领域，尤其涉及一种涡流检测探头，包括绕组单元（2）和封装绕组单元的外壳（3）；所述绕组单元（2）包括磁芯（2-1），绕在磁芯（2-1）上检测线圈（2-2）和绕在检测线圈（2-2）上的激励线圈（2-3）；所述外壳（3）的上部设有通孔（4），下部设有空腔（5）；所述绕组单元（2）被封装在所述空腔（5）内；所述激励线圈（2-3）由直径为0.14~0.16mm的漆包铜线绕制445~450匝形成；检测线圈（2-2）由直径为0.05~0.07mm的漆包铜线绕制1400~1500匝形成。采用上述技术方案后，克服了涡流检测探头对材质为40Cr的回转支承表面淬火层识别不敏感，容易漏检的技术问题。

公开(公告)号：CN302217115S

公开(公告)日：2012-12-05

申请号：CN201230155059.X

申请日：2012-05-08

Applicant: 常州机电职业技术学院

Designer： 金佳琳 ,  虞文武 ,  林俊明

Abstract: 1．本外观设计产品的名称：涡流检测探头。2．本外观设计产品的用途：涡流检测。3．本外观设计的设计要点：外壳和卡槽的形状。4．最能表明设计要点的图片或者照片：立体图。