公开(公告)号：CN117351182A

公开(公告)日：2024-01-05

申请号：CN202311347623.1

申请日：2023-10-18

Applicant: 常州大学

Inventor： 吕继东 ,  周润杰 ,  丁慎平 ,  邹凌 ,  牛亮亮 ,  戎海龙

IPC: G06V10/20 ,  G06V10/30 ,  G06V10/44 ,  G06V10/60 ,  G06V10/82 ,  G06T7/00

Abstract: 本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及基于深度学习的瓷绝缘子表面反光去除方法及系统，包括获取瓷绝缘子的图像和深度图像；对带反光瓷绝缘子的深度图像进行预处理；构建基于DIAN子网络和IDN子网络，IDN子网络用于绝缘子图像恢复；DIAN子网络利用深度信息，引导IDN子网络反光去除；在结构相似度指数和均方误差损失函数相结合的基础上引入梯度损失，构建GL‑SSIM损失函数。本发明解决现有网络无法有效预处理瓷绝缘子表面反光问题。

公开(公告)号：CN116883355A

公开(公告)日：2023-10-13

申请号：CN202310843095.2

申请日：2023-07-11

Applicant: 常州大学

Inventor： 吕继东 ,  周润杰 ,  丁慎平 ,  牛亮亮 ,  邹凌 ,  戎海龙

IPC: G06T7/00 ,  G06T3/40 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/048 ,  G06N3/08 ,  G06V10/80 ,  G06V10/82

Abstract: 本发明涉及图像技术领域，尤其涉及瓷绝缘子表面开裂缺陷识别方法、系统及计算机可读介质，包括采集瓷绝缘子表面缺陷图像；对瓷绝缘子缺陷图像进行标准化和归一化处理；利用DCN‑bifpn模块改进YOLOV5s网络，并对缺陷数据进行检测和识别；利用DCN‑C3ECA模块改进YOLOV5s网络，将neck层的三个C3模块替换为DCN‑C3ECA模块。本发明解决现有方法识别瓷绝缘子出现长条状缺陷检测准确性不高的问题。