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发明公开
样本检查系统、支架输送系统及方法、支架输送控制装置审中-实审

公开(公告)号：CN116443579A

公开(公告)日：2023-07-18

申请号：CN202310023420.0

申请日：2023-01-09

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 巴山幸贤 , 大前勇一郎 , 佐藤利纪 , 辻宏幸

IPC: B65G49/00

Abstract: 本发明提供能够减轻操作者的作业的样本检查系统、支架输送系统、支架输送控制装置以及支架输送方法。样本检查系统(1)具备：样本重新排列装置(40)，所述样本重新排列装置将保持于第一支架的样本容器转移到第二支架；样本保管装置(70)，所述样本保管装置将由涂抹标本制作装置(52)以及分析装置(62)进行的处理结束后的样本容器从第二支架转移到保管用的样本容器保管器具；输送装置(51、61)，所述输送装置在样本重新排列装置(40)、涂抹标本制作装置、分析装置以及样本保管装置之间输送第二支架；以及输送控制装置(80)，所述输送控制装置控制输送装置。输送控制装置在样本重新排列装置与样本保管装置之间双向地输送控制第二支架。

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