终端测试系统及方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105933075A

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201610453088.1

    申请日:2016-06-21

    CPC classification number: H04B17/102 H04B17/0085 H04B17/29 H04B17/327

    Abstract: 本发明提供了一种终端测试系统及方法,该终端测试系统包括:基站模拟器、全电波暗室、DSP芯片及FPGA芯片;全电波暗室中均匀设置有多个探头,分别与被测终端的天线无线连接;基站模拟器输出基站信号给全电波暗室中的多个探头;所述多个探头接收基站模拟器输出的基站信号,分别根据基站信号向被测终端发出下行信号,并接收被测终端根据下行信号反馈的上行信号;所述DSP芯片用于获取所述多个探头接收到的上行信号的功率,根据功率的大小从所述多个探头中选出预设数量的探头,并基于所选出的探头生成控制信号;FPGA芯片用于根据控制信号控制全电波暗室中对应探头的开关;所选出的探头所述全电波暗室中向被测终端发出测试信号,以对被测终端进行测试。

    终端测试系统
    2.
    实用新型

    公开(公告)号:CN205693679U

    公开(公告)日:2016-11-16

    申请号:CN201620617165.8

    申请日:2016-06-21

    Abstract: 本实用新型提供了一种终端测试系统,该终端测试系统包括:基站模拟器、全电波暗室、DSP芯片及FPGA芯片;全电波暗室中均匀设置有多个探头,分别与被测终端的天线无线连接;基站模拟器输出基站信号给全电波暗室中的多个探头;所述多个探头用于接收基站模拟器输出的基站信号并分别发出下行信号,还用于接收被测终端根据下行信号反馈的上行信号;所述DSP芯片用于获取所述多个探头接收到的上行信号的功率,并根据功率的大小输出用于控制所述多个探头中预设数量的探头的开关的控制信号,该预设数量的探头在所述全电波暗室中向所述被测终端发出测试信号,以对所述被测终端进行测试;FPGA芯片用于根据控制信号控制全电波暗室中对应探头的开关。

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