公开(公告)号：CN111352013A

公开(公告)日：2020-06-30

申请号：CN202010052338.7

申请日：2020-01-17

Applicant: 山东工商学院

Inventor： 林忠海 ,  陈宏 ,  高菲 ,  李晓林 ,  雷嘉懿 ,  魏广芬 ,  李美花 ,  刘燕丽 ,  何爱香

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明涉及一种基于LabVIEW的I-V自适应测量装置及测试方法，其属于元器件I-V曲线检测技术领域。包括待测组件、激励模块、I-V测试模块和上位机，I-V测试模块通过GPIB、RS232、RS485、USB等接口连接上位机内的数据处理单元，所述激励模块连接待测组件，待测组件通过总开关S连接I-V测试模块，所述激励模块还连接上位机内可调节激励信号大小和步长的激励控制单元。本发明的有益效果是：采用计算机与LabVIEW软件相结合，硬件局限性较小，内存资源、运算速度提高。根据待测组件电流大小确定激励信号大小，有利于保护待测组件。采用高精度数字源表以及多种方法进行降噪去干扰处理，使测试结果更加准确。