一种激光损伤阈值测试中光斑有效面积准确测定方法

    公开(公告)号:CN114440800B

    公开(公告)日:2023-03-24

    申请号:CN202210076355.3

    申请日:2022-01-24

    Applicant: 山东大学

    Abstract: 本发明涉及一种激光损伤阈值测试中光斑有效面积准确测定方法,方法包括:通过相纸确定激光焦面的大体位置。然后调节半波片,将测试激光衰减,衰减后的激光经过平板分束镜反射分光,反射光能量密度低于CCD相机的像元饱和阈值。将CCD相机放在导轨上,并置于光路中。沿光路方向滑动CCD相机的位置,通过CCD相机软件的读数,计算得到最小光斑附近五处光斑面积。在五处光斑面积中选择面积最小的一个光斑的位置,在该位置前后连续移动导轨,通过观察CCD相机中采集到的光斑大小,移动过程中光斑最小的位置即为焦面位置。该方法适用于非对称光斑能量分布的高能量激光,并且能够准确测定聚焦后焦面位置的光斑大小。

    一种基于普克尔盒的无相位调制脉冲拾取方法及装置

    公开(公告)号:CN113612107B

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202110916590.2

    申请日:2021-08-11

    Applicant: 山东大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于普克尔盒的无相位调制脉冲拾取方法及装置,该装置包括:沿光路依次设置的高重复频率的激光器、半波片、起偏器、普克尔盒和检偏器。所述方法包括:高重复频率的激光脉冲序列经过半波片后,注入到系统;通过起偏器对P偏振分量和S偏振分量的激光进行分离;P偏振分量的激光脉冲进入普克尔盒中,当普克尔盒不加高压时,P偏振分量的脉冲序列不经任何相位调制通过普克尔盒和检偏器输出;当普克尔盒加高压时,激光偏振态旋转90度,然后经检偏器反射到旁路;调节普克尔盒的加压时间,能够获得线偏振、高信噪比、高稳定性、无相位调制的单脉冲到高重频脉冲序列。

    一种端面泵浦用半导体激光器光纤耦合输出光斑检测装置及方法

    公开(公告)号:CN113959681A

    公开(公告)日:2022-01-21

    申请号:CN202111120294.8

    申请日:2021-09-24

    Applicant: 山东大学

    Abstract: 本发明涉及一种端面泵浦用半导体激光器光纤耦合输出光斑检测装置及方法,包括沿激光光束方向依次设置的光纤准直器、第一楔形分束镜、第一光束终止器、中性密度滤光片、聚焦透镜、CCD相机;半导体激光器的光纤耦合输出接口与光纤准直器连接。本发明通过合理地设计耦合透镜组对入射激光进行成像,选取恰当光密度的中性密度滤光片组合对入射激光进行等比例衰减,并将CCD相机放置于光纤端面的像面处,最终能够实现对高功率光纤耦合半导体激光器的光纤输出端面光斑的形状、大小、均匀性、对称性以及包层是否漏光等参数进行检测。相比之下,本发明所涉及的装置及方法能够很好地适用于高功率光纤耦合半导体激光器的光斑检测,并且该装置结构简单。

    一种基于普克尔盒的无相位调制脉冲拾取方法及装置

    公开(公告)号:CN113612107A

    公开(公告)日:2021-11-05

    申请号:CN202110916590.2

    申请日:2021-08-11

    Applicant: 山东大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于普克尔盒的无相位调制脉冲拾取方法及装置,该装置包括:沿光路依次设置的高重复频率的激光器、半波片、起偏器、普克尔盒和检偏器。所述方法包括:高重复频率的激光脉冲序列经过半波片后,注入到系统;通过起偏器对P偏振分量和S偏振分量的激光进行分离;P偏振分量的激光脉冲进入普克尔盒中,当普克尔盒不加高压时,P偏振分量的脉冲序列不经任何相位调制通过普克尔盒和检偏器输出;当普克尔盒加高压时,激光偏振态旋转90度,然后经检偏器反射到旁路;调节普克尔盒的加压时间,能够获得线偏振、高信噪比、高稳定性、无相位调制的单脉冲到高重频脉冲序列。

    一种端面泵浦用半导体激光器光纤耦合输出光斑检测装置及方法

    公开(公告)号:CN113959681B

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202111120294.8

    申请日:2021-09-24

    Applicant: 山东大学

    Abstract: 本发明涉及一种端面泵浦用半导体激光器光纤耦合输出光斑检测装置及方法,包括沿激光光束方向依次设置的光纤准直器、第一楔形分束镜、第一光束终止器、中性密度滤光片、聚焦透镜、CCD相机;半导体激光器的光纤耦合输出接口与光纤准直器连接。本发明通过合理地设计耦合透镜组对入射激光进行成像,选取恰当光密度的中性密度滤光片组合对入射激光进行等比例衰减,并将CCD相机放置于光纤端面的像面处,最终能够实现对高功率光纤耦合半导体激光器的光纤输出端面光斑的形状、大小、均匀性、对称性以及包层是否漏光等参数进行检测。相比之下,本发明所涉及的装置及方法能够很好地适用于高功率光纤耦合半导体激光器的光斑检测,并且该装置结构简单。

    一种激光损伤阈值测试中光斑有效面积准确测定方法

    公开(公告)号:CN114440800A

    公开(公告)日:2022-05-06

    申请号:CN202210076355.3

    申请日:2022-01-24

    Applicant: 山东大学

    Abstract: 本发明涉及一种激光损伤阈值测试中光斑有效面积准确测定方法,方法包括:通过相纸确定激光焦面的大体位置。然后调节半波片,将测试激光衰减,衰减后的激光经过平板分束镜反射分光,反射光能量密度低于CCD相机的像元饱和阈值。将CCD相机放在导轨上,并置于光路中。沿光路方向滑动CCD相机的位置,通过CCD相机软件的读数,计算得到最小光斑附近五处光斑面积。在五处光斑面积中选择面积最小的一个光斑的位置,在该位置前后连续移动导轨,通过观察CCD相机中采集到的光斑大小,移动过程中光斑最小的位置即为焦面位置。该方法适用于非对称光斑能量分布的高能量激光,并且能够准确测定聚焦后焦面位置的光斑大小。

Patent Agency Ranking