具有自检漏和温度控制功能的硅漂移探测器及探测器系统

    公开(公告)号:CN115440827A

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN202211207898.0

    申请日:2022-09-30

    Abstract: 本发明公开一种具有自检漏和温度控制功能的硅漂移探测器及探测器系统,壳体的容置腔内准直器与硅漂移探测元件连接;放大器与硅漂移探测元件电连接,用于放大硅漂移探测元件的输出信号;陶瓷基座与硅漂移探测元件连接,设置于硅漂移探测元件远离准直器的一侧;其中,陶瓷基座的表面设置有至少两个凹槽,凹槽内嵌合有绝压传感器和/或温度传感器,绝压传感器和温度传感器用于向外界输出压力信号和温度信号;制冷器设置于陶瓷基座远离硅漂移探测元件的一端,用于对壳体内部进行温度保持;合理设计绝压传感器和温度传感器的安装位置,在不增加整体设计体积,并保证内部构造不发生结构干涉的情况下,提供具有自检漏以及温度控制功能的硅漂移探测器。

    一种X射线角度偏差探测装置和系统

    公开(公告)号:CN116839597A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202310434955.7

    申请日:2023-04-21

    Abstract: 本发明了一种X射线角度偏差探测装置和系统,探测装置包括底座、支撑架、转动装置和测量芯片,测量芯片设置在转动装置上,支撑架和转动装置分别设置在底座的上下两侧;转动装置包括结构相同的第一转动装置和第二转动装置,第一转动装置的一侧与底座相连接,另一侧通过旋转台侧板与第二转动装置相连接,第一转动装置和第二转动装置相互垂直,且不在同一个平面内,第二转动装置的一侧与旋转台侧板固定相连,另一侧设有放置芯片的芯片固定板,本申请用转动装置使得测量芯片能够进行球缺运动,使得X射线到达测量芯片的距离不变,从而实现对X射线的方向进行准确测量。

    一种集成式半导体制冷散热封装结构的设计方法

    公开(公告)号:CN114203743A

    公开(公告)日:2022-03-18

    申请号:CN202111510805.7

    申请日:2021-12-10

    Abstract: 本发明提供一种集成式半导体制冷散热封装结构的设计方法,属于半导体封装技术领域,该设计方法同时考虑到制冷器件、图像传感器和封装结构三者的相互影响,以制冷性、气密性、可靠性、散热性为设计宗旨,将三者在同一平台上进行设计;制冷器件采用半导体制冷器,结合芯片尺寸和制冷工况完成半导体制冷器的选型;图像传感器的信号输出结构设计;集成式壳体及散热器设计,由半导体制冷器尺寸、信号输出结构、光学镜头与图像传感器距离、真空接口、集成式散热器决定;光窗尺寸及材料设计;密封工艺设计;真空处理形成真空封装结构。该设计结构紧凑、封装占空比大、密封效果好,封装壳体与散热器通过3D打印形成一体,热阻最小,散热效果最佳。

    硅漂移探测器的封装结构

    公开(公告)号:CN218447924U

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202222606708.4

    申请日:2022-09-30

    Abstract: 本实用新型公开一种硅漂移探测器的封装结构,在壳体的容置腔内准直器与硅漂移探测元件连接;放大器与硅漂移探测元件电连接,用于放大硅漂移探测元件的输出信号;陶瓷基座与硅漂移探测元件连接,设置于硅漂移探测元件远离准直器的一侧;其中,陶瓷基座的表面设置有至少两个凹槽,凹槽内嵌合有绝压传感器和/或温度传感器,绝压传感器和温度传感器用于向外界输出压力信号和温度信号;制冷器设置于陶瓷基座远离硅漂移探测元件的一端,用于对壳体内部进行温度保持;合理设计绝压传感器和温度传感器的安装位置,在不增加整体设计体积,并保证内部构造不发生结构干涉的情况下,提供具有自检漏以及温度控制功能的硅漂移探测器。

    一种X射线角度偏差探测装置

    公开(公告)号:CN219737789U

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202320914173.9

    申请日:2023-04-21

    Abstract: 本实用新型了一种X射线角度偏差探测装置,包括底座、支撑架、转动装置和测量芯片,测量芯片设置在转动装置上,支撑架和转动装置分别设置在底座的上下两侧;转动装置包括结构相同的第一转动装置和第二转动装置,第一转动装置的一侧与底座相连接,另一侧通过旋转台侧板与第二转动装置相连接,第一转动装置和第二转动装置相互垂直,且不在同一个平面内,第二转动装置的一侧与旋转台侧板固定相连,另一侧设有放置芯片的芯片固定板,本申请用转动装置使得测量芯片能够进行球缺运动,使得X射线到达测量芯片的距离不变,从而实现对X射线的方向进行准确测量。

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