异系统LTE频点测量方法和装置、设备、芯片及存储介质

    公开(公告)号:CN118828667A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410919195.3

    申请日:2024-07-09

    Inventor: 张赵荣 李斐

    Abstract: 本发明公开一种异系统LTE频点测量方法、测量装置、设备、芯片及存储介质,该测量方法基于测量策略,利用测量间隙,按照分配的多个LTE频点的顺序,依序对待测的多个LTE频点执行测量任务,在依序对待测的多个LTE频点执行测量任务的过程中,采用的是以单个LTE频点的循环测量方式,即,仅在完成当前一个LTE频点的测量任务之后,再对下一个LTE频点执行测量任务。本发明可以大幅减少排序在前的频点的测量和上报测量结果的最短时间,将测量的LTE频点的满足测量结果报告要求的测量结果上报至网络设备,以供网络设备据此触发新空口NR到LTE的异系统切换或重定向,避免用户设备出现掉话或脱网,同时减少测量间隙耗时长对上层业务性能的影响。

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