图像记录方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114375261B

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202080064285.9

    申请日:2020-08-31

    Abstract: 一种图像记录方法,其包括:准备具有第1油墨组合物和第2油墨组合物的至少两种油墨组合物的工序,所述第1油墨组合物含有聚合性液晶化合物、手性化合物、聚合引发剂及有机溶剂,所述第2油墨组合物含有聚合性液晶化合物、手性化合物、聚合引发剂及有机溶剂;通过喷墨记录方式在基材上赋予第1油墨组合物的工序;对赋予到基材上的第1油墨组合物照射活性能量射线,形成第1油墨膜的工序;通过喷墨记录方式在第1油墨膜上赋予第2油墨组合物的工序;及对赋予到第1油墨膜上的第2油墨组合物照射活性能量射线,形成第2油墨膜的工序,第1油墨膜上的十六烷接触角为45°以下。

    相位差测量方法及装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101281092A

    公开(公告)日:2008-10-08

    申请号:CN200810091808.X

    申请日:2008-04-03

    Abstract: 本发明提供一种能够准确地确定存在散射、吸收或消除偏振光的试样的相位差的方法。该方法为根据依次配置有光源、偏振器、试样、检偏器和分光器的光学系中测量到的分光光谱确定该试样的相位差的方法,包括以下过程:准备没受该试样的相位差影响的该试样的分光光谱数据;对使该偏振器的透射轴、该试样的光学轴和该检偏器的透射轴的配置为检测该试样的相位差的配置而测量的至少一个分光光谱进行测量;用上述分光光谱数据修正上述分光光谱。

    使用了分光器的相位差测量装置

    公开(公告)号:CN101281091A

    公开(公告)日:2008-10-08

    申请号:CN200810091804.1

    申请日:2008-04-03

    Abstract: 本发明提供一种能够简便并且精度良好地测量小的相位差的相位差测量装置。该相位差测量装置包括依次配置有光源、偏振器、试样台、检偏器和分光器的光学系统以及计算单元,在偏振器与检偏器之间配置有波长板,并且在测量波长区域内的2个以上的波长的每一个中,用0.5以上的整数或半整数去除该波长板的延迟值的值与该波长一致。

    图像记录方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114375261A

    公开(公告)日:2022-04-19

    申请号:CN202080064285.9

    申请日:2020-08-31

    Abstract: 一种图像记录方法,其包括:准备具有第1油墨组合物和第2油墨组合物的至少两种油墨组合物的工序,所述第1油墨组合物含有聚合性液晶化合物、手性化合物、聚合引发剂及有机溶剂,所述第2油墨组合物含有聚合性液晶化合物、手性化合物、聚合引发剂及有机溶剂;通过喷墨记录方式在基材上赋予第1油墨组合物的工序;对赋予到基材上的第1油墨组合物照射活性能量射线,形成第1油墨膜的工序;通过喷墨记录方式在第1油墨膜上赋予第2油墨组合物的工序;及对赋予到第1油墨膜上的第2油墨组合物照射活性能量射线,形成第2油墨膜的工序,第1油墨膜上的十六烷接触角为45°以下。

Patent Agency Ranking