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公开(公告)号：CN104914699B
公开(公告)日：2018-03-20
申请号：CN201410526596.9
申请日：2014-10-09
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: G03G21/0017 , G03G21/0011 , G03G2215/0132
Abstract: 本发明涉及清洁刮板、处理盒和图像形成装置。所述清洁刮板包括下述部件，在该部件中，在示差扫描量热计的热分析中，70℃以上至小于110℃范围中的结晶熔融峰1的结晶熔融热ΔH1(mJ/mg)、110℃以上至小于170℃范围中的结晶熔融峰2的结晶熔融热ΔH2(mJ/mg)、和170℃以上至200℃以下范围中的结晶熔融峰3的结晶熔融热ΔH3(mJ/mg)满足式(1)至(4)，所述部件构成至少与所要清洁的部件接触的接触部分，式(1):ΔH1+ΔH2>ΔH3式(2):0.0≤ΔH1≤5.0式(3):0.1≤ΔH2式(4):0.0≤ΔH3≤2.0。
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公开(公告)号：CN106502072B
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201610217327.3
申请日：2016-04-08
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: G03G21/0017 , G03G21/1814
Abstract: 本发明涉及一种清洁刮板、处理盒和图像形成设备，所述清洁刮板包括至少构成与待清洁构件接触的接触部分的聚氨酯构件。所述聚氨酯构件含有含硬链段组分和软链段组分的聚氨酯。硬链段组分具有45nm以上至100nm以下的区域粒径。
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公开(公告)号：CN107239026A
公开(公告)日：2017-10-10
申请号：CN201610806817.7
申请日：2016-09-06
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: G03G21/0017 , G03G15/161 , G03G21/0011 , G03G21/18 , G03G2215/0132 , G03G21/1814
Abstract: 本发明涉及清洁刮板、处理盒和图像形成设备。清洁刮板接触具有移动的清洁目标表面的清洁目标构件并且清洁该清洁目标表面，包括：刮板体，其具有在清洁刮板与清洁目标构件接触的状态下面向移动方向的上游侧的远端表面、在清洁刮板与清洁目标构件接触的状态下面向移动方向的下游侧的下表面、与远端表面共享侧边并且与下表面对置的上表面以及各分别与远端表面、下表面和上表面共享侧边的一对侧表面；和刮板突起，当一对侧表面对置的方向是宽度方向、下表面和上表面对置的方向是厚度方向并且正交于宽度方向和厚度方向的方向是高度方向时，刮板突起位于下表面的靠近远端表面的端部处，具有在厚度方向上相对于下表面向外突出的形状。
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公开(公告)号：CN106502073A
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201610217769.8
申请日：2016-04-08
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G03G21/00
Abstract: 本发明涉及一种清洁刮板、处理盒和图像形成设备，所述清洁刮板包括含有聚氨酯的聚氨酯构件，所述聚氨酯构件至少构成与待清洁构件接触的接触部分。通过红外光谱获得的所述聚氨酯构件的红外吸收光谱具有1.1以上的峰值强度比(A/B)，其中A表示因不形成氢键的羰基产生的出现在1,730cm-1以上至1,740cm-1以下的范围内的光谱峰的强度，并且B表示因形成氢键的羰基产生的出现在1,670cm-1以上至1,720cm-1以下的范围内光谱峰的强度。
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公开(公告)号：CN106502072A
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201610217327.3
申请日：2016-04-08
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: G03G21/0017 , G03G21/1814 , G03G21/0029 , G03G21/1842
Abstract: 本发明涉及一种清洁刮板、处理盒和图像形成设备，所述清洁刮板包括至少构成与待清洁构件接触的接触部分的聚氨酯构件。所述聚氨酯构件含有含硬链段组分和软链段组分的聚氨酯。硬链段组分具有45nm以上至100nm以下的区域粒径。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105739272A
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201510400891.4
申请日：2015-07-09
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: G03G15/161 , G03G21/0017 , G03G21/1814
Abstract: 本发明提供一种滑动部件，包括：基材，该基材包括与被滑动部件接触的接触区域，其中，自所述接触区域的表面起的所述接触区域的厚度中的杨氏模量E1为10MPa至200,000MPa，并且所述接触区域的厚度T为10nm至500nm。本发明还提供了具有该滑动部件的处理盒和成像装置。本发明的滑动部件能够防止接触区域中发生碎裂。
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公开(公告)号：CN104914699A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201410526596.9
申请日：2014-10-09
Applicant: 富士施乐株式会社
CPC classification number: G03G21/0017 , G03G21/0011 , G03G2215/0132
Abstract: 本发明涉及清洁刮板、处理盒和图像形成装置。所述清洁刮板包括下述部件，在该部件中，在示差扫描量热计的热分析中，70℃以上至小于110℃范围中的结晶熔融峰1的结晶熔融热ΔH1(mJ/mg)、110℃以上至小于170℃范围中的结晶熔融峰2的结晶熔融热ΔH2(mJ/mg)、和170℃以上至200℃以下范围中的结晶熔融峰3的结晶熔融热ΔH3(mJ/mg)满足式(1)至(4)，所述部件构成至少与所要清洁的部件接触的接触部分，式(1):ΔH1+ΔH2>ΔH3式(2):0.0≤ΔH1≤5.0式(3):0.1≤ΔH2式(4):0.0≤ΔH3≤2.0。
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公开(公告)号：CN106502073B
公开(公告)日：2019-08-23
申请号：CN201610217769.8
申请日：2016-04-08
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G03G21/00
Abstract: 本发明涉及一种清洁刮板、处理盒和图像形成设备，所述清洁刮板包括含有聚氨酯的聚氨酯构件，所述聚氨酯构件至少构成与待清洁构件接触的接触部分。通过红外光谱获得的所述聚氨酯构件的红外吸收光谱具有1.1以上的峰值强度比(A/B)，其中A表示因不形成氢键的羰基产生的出现在1,730cm‑1以上至1,740cm‑1以下的范围内的光谱峰的强度，并且B表示因形成氢键的羰基产生的出现在1,670cm‑1以上至1,720cm‑1以下的范围内光谱峰的强度。
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公开(公告)号：CN105739272B
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201510400891.4
申请日：2015-07-09
Applicant: 富士施乐株式会社
Abstract: 本发明提供一种滑动部件，包括：基材，该基材包括与被滑动部件接触的接触区域，其中，自所述接触区域的表面起的所述接触区域的厚度中的杨氏模量E1为10MPa至200,000MPa，并且所述接触区域的厚度T为10nm至500nm。本发明还提供了具有该滑动部件的处理盒和成像装置。本发明的滑动部件能够防止接触区域中发生碎裂。
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公开(公告)号：CN104730891B
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201410251496.X
申请日：2014-06-09
Applicant: 富士施乐株式会社
IPC: G03G21/00
CPC classification number: G03G21/0017
Abstract: 一种清洁刮板，包括与被清洁部件相接触的部分，以及，该部分由含有聚氨酯橡胶的部件构成，该聚氨酯橡胶具有衍生自聚酯多元醇的结构、衍生自聚异氰酸酯的结构、以及衍生自三醇的结构，上述聚酯多元醇中以50/50～80/20的摩尔比(第1种二醇组分/第2种二醇组分)，使具有10个或更多碳原子的第1种二醇组分和具有5个或更少碳原子的第2种二醇组分与二羧酸缩合。
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