一种地物光谱剖面测量方法

    公开(公告)号:CN107463716A

    公开(公告)日:2017-12-12

    申请号:CN201610385016.8

    申请日:2016-06-02

    Applicant: 宋扬

    Inventor: 宋扬 吴礼福

    Abstract: 本发明属于数字填图领域,具体公开一种地物光谱剖面测量方法,该方法包括如下步骤:步骤1,在计算机上配置时间间隔控制器;步骤2,对ASD光谱仪进行优化和白板校准;步骤3,将GPS模块固定在ASD光谱仪上;步骤4,启动步骤1中所述的时间间隔控制器和步骤3中所述的GPS模块;步骤5,沿指定路线移动步骤3中固定有GPS模块的ASD光谱仪;步骤6,关闭步骤1所述的时间间隔控制器和步骤3所述的GPS模块;步骤7,按记录时刻匹配光谱文件和GPS坐标。

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