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发明公开
一种面向存算一体存储阵列芯片的测试系统审中-实审

公开(公告)号：CN118471318A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202410639991.1

申请日：2024-05-22

Applicant: 安徽大学

Inventor： 钱致彬 , 解文杰 , 杨千钧 , 余启东 , 吕心怡 , 金志阳 , 陈诗懿 , 杨若彤 , 高路博 , 吴祖恒

IPC: G11C29/56

Abstract: 本发明公开一种面向存算一体存储阵列芯片的测试系统，属于芯片测试技术领域；一种面向存算一体存储阵列芯片的测试系统包括脉冲产生电路、电源管理电路、电压转换电路、电压采样电路以及驱动电路；脉冲产生电路将电压脉冲输入进存算一体存储阵列芯片，存算一体阵列芯片输出电流，由电压转换电路将输出电流转为电压，送入驱动电压采样电路，电压采样电路将采集到的电压传给主控FPGA；存算一体存储阵列芯片由驱动电路控制，整个测试系统由电源管理电路进行供电。

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