一种LA-ICP-MS法测定细丝样品中各元素的装置及方法

    公开(公告)号:CN103674669B

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201310244303.3

    申请日:2013-06-18

    IPC分类号: G01N1/36 G01N27/62

    摘要: 本发明涉及种LA-ICP-MS法测定细丝样品中各元素的装置及方法。解决现有对细丝样品分析的方法中,细丝样品只能平放,端面无法朝上,不能使得激光脉冲能打到样品端面上的问题。装置包括紫外激光剥蚀固体进样系统、电感耦合等离子体质谱仪,以及设置在样品池内夹持细丝样品的夹具。本发明的优点是:结构简单,使用方便,且更换快速;能够使得样品在样品池内竖起来,确保激光脉冲能打到样品的端面上;整个夹具没有棱角或凹槽,不吸附气溶胶。

    一种贵金属饰品真假鉴别的方法

    公开(公告)号:CN104330459B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201410610386.8

    申请日:2014-11-03

    IPC分类号: G01N27/64

    摘要: 本发明公开了一种贵金属饰品真假鉴别的方法,根据样品的材质和厚度选择合适的激光脉冲能量和散焦距离,采用脉冲激光单点剥蚀贵金属饰品,简化了样品前期处理程序,然后使用电感耦合等离子体质谱仪检测金属饰品被剥蚀出的材料,采集各个元素检测同位素的时间分辨图,分析时间分辨图即可得知贵金属饰品的真假,无标样分析可精确得到贵金属的纯度;优点是整个剥蚀和信号采集过程所需时间仅为1?2min,检测速度快,另外激光强度并不会受剥蚀深度增加而减弱,不会因为样品过厚而无法充分剥蚀造成误判,不受涂层或者镀层厚度限制,鉴别准确性高,而且剥蚀直径仅为30~80μm,固体样品的外形宏观上表现完整无损。

    一种固体样品的直接分析装置

    公开(公告)号:CN103698385B

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201310656437.6

    申请日:2013-12-06

    IPC分类号: G01N27/62 G01N1/28

    摘要: 本发明公开了一种固体样品的直接分析装置,样品池安装在三维移动平台上,显微成像系统对准样品池内的固体样品,皮秒激光器发出的激光束通过激光光学系统聚焦到样品池内的样品表面,被激光烧蚀后产生的粒子经过气溶胶传输系统进入到电感耦合等离子体质谱仪中,其优点是激光波长1064nm、532nm、355nm、266nm可选,脉冲宽度30ps,脉冲频率20Hz,脉冲能量连续可调,266nm最大脉冲能量达3.0mJ;样品池的位置三维可控,三通电磁阀切换的气溶胶传输系统,传输管路短;采用非同轴系统,实现样品烧蚀位置的快速聚焦定位。分析低合金钢、纯铜和纯铝等中的各元素基本没有元素分馏效应,对铁基、铜基、铝基等中的各元素基本没有基体效应。

    电感耦合等离子体离子源气体保护的方法及其装置

    公开(公告)号:CN102263004A

    公开(公告)日:2011-11-30

    申请号:CN201010183193.0

    申请日:2010-05-26

    IPC分类号: H01J49/10

    CPC分类号: H01J49/105

    摘要: 本发明涉及一种电感耦合等离子体离子源气体保护的方法及其装置。本发明的电感耦合等离子体离子源气体保护装置,包括中空的气体屏蔽罩体,所述气体屏蔽罩体一端开有与等离子体炬管相对应的炬管孔和进气口,另一端设置成与外部相连通的开口,所述开口与电感耦合等离子体接口装置相对,所述开口处设有冷却装置,所述水冷装置与电感耦合等离子体接口装置相配形成气体屏蔽罩体的气体出气端,该气体屏蔽罩体的气体出气端与外界相通。本发明提供的电感耦合等离子体离子源气体保护的方法及其装置,使ICP处在惰性气体氛围中,从根本上消除或减少O、N、H和C等形成的干扰,降低背景等效浓度,改善线性相关系数和检出限。

    一种贵金属饰品真假鉴别的方法

    公开(公告)号:CN104330459A

    公开(公告)日:2015-02-04

    申请号:CN201410610386.8

    申请日:2014-11-03

    IPC分类号: G01N27/64

    摘要: 本发明公开了一种贵金属饰品真假鉴别的方法,根据样品的材质和厚度选择合适的激光脉冲能量和散焦距离,采用脉冲激光单点剥蚀贵金属饰品,简化了样品前期处理程序,然后使用电感耦合等离子体质谱仪检测金属饰品被剥蚀出的材料,采集各个元素检测同位素的时间分辨图,分析时间分辨图即可得知贵金属饰品的真假,无标样分析可精确得到贵金属的纯度;优点是整个剥蚀和信号采集过程所需时间仅为1-2min,检测速度快,另外激光强度并不会受剥蚀深度增加而减弱,不会因为样品过厚而无法充分剥蚀造成误判,不受涂层或者镀层厚度限制,鉴别准确性高,而且剥蚀直径仅为30~80μm,固体样品的外形宏观上表现完整无损。

    一种快速测定金属镀层厚度的方法

    公开(公告)号:CN104330069A

    公开(公告)日:2015-02-04

    申请号:CN201410609442.6

    申请日:2014-11-03

    IPC分类号: G01B21/08

    CPC分类号: G01B21/08

    摘要: 本发明公开了一种快速测定金属镀层厚度的方法,通过采用皮秒脉冲激光器在单点剥蚀模式、20Hz脉冲频率和875μm散焦距离等特定的条件下对样品进行剥蚀,通过电感耦合等离子体质谱仪得到可将镀层金属和基材金属直观区分开的时间分辨图,确定时间分辨图中镀层金属和基材金属的交界点,由此确定剥蚀镀层金属的剥蚀时间,然后以相同镀层的标准片为基准计算金属镀层的单位脉冲剥蚀量,根据单位脉冲剥蚀量和剥蚀时间计算得到镀层厚度;优点是实现镀层厚度的无损快速检测,不受是否导体的限制,对样品的形状没有要求,且准确的区分两层金属边界,检测精度高。

    一种固体样品的直接分析装置

    公开(公告)号:CN103698385A

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201310656437.6

    申请日:2013-12-06

    IPC分类号: G01N27/62 G01N1/28

    摘要: 本发明公开了一种固体样品的直接分析装置,样品池安装在三维移动平台上,显微成像系统对准样品池内的固体样品,皮秒激光器发出的激光束通过激光光学系统聚焦到样品池内的样品表面,被激光烧蚀后产生的粒子经过气溶胶传输系统进入到电感耦合等离子体质谱仪中,其优点是激光波长1064nm、532nm、355nm、266nm可选,脉冲宽度30ps,脉冲频率20Hz,脉冲能量连续可调,266nm最大脉冲能量达3.0mJ;样品池的位置三维可控,三通电磁阀切换的气溶胶传输系统,传输管路短;采用非同轴系统,实现样品烧蚀位置的快速聚焦定位。分析低合金钢、纯铜和纯铝等中的各元素基本没有元素分馏效应,对铁基、铜基、铝基等中的各元素基本没有基体效应。

    一种LA-ICP-MS法测定细丝样品中各元素的装置及方法

    公开(公告)号:CN103674669A

    公开(公告)日:2014-03-26

    申请号:CN201310244303.3

    申请日:2013-06-18

    IPC分类号: G01N1/36 G01N27/62

    摘要: 本发明涉及种LA-ICP-MS法测定细丝样品中各元素的装置及方法。解决现有对细丝样品分析的方法中,细丝样品只能平放,端面无法朝上,不能使得激光脉冲能打到样品端面上的问题。装置包括紫外激光剥蚀固体进样系统、电感耦合等离子体质谱仪,以及设置在样品池内夹持细丝样品的夹具。本发明的优点是:结构简单,使用方便,且更换快速;能够使得样品在样品池内竖起来,确保激光脉冲能打到样品的端面上;整个夹具没有棱角或凹槽,不吸附气溶胶。

    电感耦合等离子体离子源气体保护装置

    公开(公告)号:CN102263004B

    公开(公告)日:2014-01-01

    申请号:CN201010183193.0

    申请日:2010-05-26

    IPC分类号: H01J49/10

    CPC分类号: H01J49/105

    摘要: 本发明涉及一种电感耦合等离子体离子源气体保护的方法及其装置。本发明的电感耦合等离子体离子源气体保护装置,包括中空的气体屏蔽罩体,所述气体屏蔽罩体一端开有与等离子体炬管相对应的炬管孔和进气口,另一端设置成与外部相连通的开口,所述开口与电感耦合等离子体接口装置相对,所述开口处设有冷却装置,所述水冷装置与电感耦合等离子体接口装置相配形成气体屏蔽罩体的气体出气端,该气体屏蔽罩体的气体出气端与外界相通。本发明提供的电感耦合等离子体离子源气体保护的方法及其装置,使ICP处在惰性气体氛围中,从根本上消除或减少O、N、H和C等形成的干扰,降低背景等效浓度,改善线性相关系数和检出限。

    一种用于激光剥蚀固体的样品池

    公开(公告)号:CN203672702U

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201320800559.3

    申请日:2013-12-06

    IPC分类号: G01N1/44

    摘要: 本实用新型公开了一种用于激光剥蚀固体的样品池,样品池包括具有样品摆放台的塞入体和下端开口的固定筒体,样品摆放台位于塞入体的上端,固定筒体的上方有一个对激光波长是透明的窗口,该窗口允许激光能量穿过并聚焦到样品表面,塞入体从固定筒体的下端开口部塞入,使固定筒体内形成一个密闭空腔,样品摆放台位于密闭空腔内,固定筒体上设置有与密闭空腔相通的进气口和出气口,其优点是样品池的进出气口固定设置,取放样品时,不涉及进出气口的位置变化,进出气管一直固定,保证气路的正常状态。样品池的窗口一直固定,聚焦不会受到影响,重现性比较好。样品池是封闭气密的,避免样品的损失及空气的掺入。样品池的密闭空腔体积约为8cm3。