光源装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105451634B

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201480023896.3

    申请日:2014-07-07

    Abstract: 光源装置具有:多个半导体光源,它们射出波段相互不同的光;控制部,其根据明亮度控制信息决定对所述多个颜色的半导体光源中的一个基准半导体光源进行驱动的驱动信号的电流值和占空比,根据对所述基准半导体光源进行驱动的驱动信号的电流值决定对所述多个颜色的半导体光源中的所述基准半导体光源以外的半导体光源进行驱动的驱动信号的电流值,将对所述多个颜色的半导体光源中的所述基准半导体光源以外的半导体光源进行驱动的驱动信号的占空比决定为与对所述基准半导体光源进行驱动的驱动信号的占空比一致,产生用于对所述多个颜色的半导体光源进行调光控制的调光信息;以及驱动部,其根据所述调光信息对所述多个颜色的半导体光源进行驱动。

    摄像系统
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106455959B

    公开(公告)日:2018-04-10

    申请号:CN201580030461.6

    申请日:2015-10-02

    Abstract: 摄像系统具有:多个半导体发光元件,它们发出包含用于对被摄体进行照明的规定颜色的光在内的多个颜色的光;光量检测部,其分别检测从多个半导体发光元件发出的光的光量;摄像元件,其对被摄体的光学像进行摄像;控制部,其设定与摄像元件的摄像动作对应的光量控制样式,根据所设定的光量控制样式使发出规定颜色的光的基准半导体发光元件进行驱动;曝光期间设定部,其根据光量控制样式设定光量检测部的曝光期间;以及颜色平衡调整部,其根据光量检测部的曝光期间内检测到的多个颜色的光的光量和光量控制样式,使基准半导体发光元件以外的各半导体发光元件进行驱动,由此对多个颜色的光的颜色平衡进行调整。

    光源装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105451634A

    公开(公告)日:2016-03-30

    申请号:CN201480023896.3

    申请日:2014-07-07

    Abstract: 光源装置具有:多个半导体光源,它们射出波段相互不同的光;控制部,其根据明亮度控制信息决定对所述多个颜色的半导体光源中的一个基准半导体光源进行驱动的驱动信号的电流值和占空比,根据对所述基准半导体光源进行驱动的驱动信号的电流值决定对所述多个颜色的半导体光源中的所述基准半导体光源以外的半导体光源进行驱动的驱动信号的电流值,将对所述多个颜色的半导体光源中的所述基准半导体光源以外的半导体光源进行驱动的驱动信号的占空比决定为与对所述基准半导体光源进行驱动的驱动信号的占空比一致,产生用于对所述多个颜色的半导体光源进行调光控制的调光信息;以及驱动部,其根据所述调光信息对所述多个颜色的半导体光源进行驱动。

    内窥镜用光源装置和内窥镜系统

    公开(公告)号:CN107405064B

    公开(公告)日:2019-05-07

    申请号:CN201680017667.X

    申请日:2016-10-06

    Abstract: 内窥镜用光源装置(12)具有:照射部(38),其能够照射激励光;旋转体(35),其设置在激励光的光轴上,以旋转轴(34)为中心进行旋转;荧光体(36),其配置在旋转体上的激励光的照射区域内,通过被照射激励光而产生荧光;光量控制部(31),其对激励光的照射强度或照射时间进行控制;以及旋转控制部(46),其在通过光量控制部使激励光的照射强度增大或者使照射时间增加的情况下进行使旋转体的旋转周期增长的旋转控制,在通过光量控制部使激励光的照射强度减小或者使照射时间减少的情况下进行使旋转体的旋转周期缩短的旋转控制。

    光源装置
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105873495B

    公开(公告)日:2018-09-14

    申请号:CN201580003301.2

    申请日:2015-03-26

    Abstract: 光源装置具有:第1和第2半导体发光元件;第1和第2光量检测部,它们具有相互相同的检测范围,用于分别检测第1和第2半导体发光元件的发光量;光量限制单元,其具有第1光量限制部和第2光量限制部中的至少一方,以使得作为第1和第2半导体发光元件的使用最大光量的第1和第2光量与检测范围内的规定值一致,其中,该第1光量限制部限制从第1半导体发光元件入射到第1光量检测部的第1光的光量,该第2光量限制部限制从第2半导体发光元件入射到第2光量检测部的第2光的光量;以及控制部,其根据第1和第2光量检测部的检测结果来控制第1半导体发光元件和第2半导体发光元件的发光量。

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