基于波形采样的闪烁体衰减时间测试方法

    公开(公告)号:CN117741732A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311736678.1

    申请日:2023-12-18

    IPC分类号: G01T7/00

    摘要: 本发明公开了一种基于波形采样的闪烁体衰减时间测试方法,测试方法的步骤包括:将闪烁体耦合至放置于屏蔽箱的光电倍增管的光学窗口上,使用放射源激发样品,打开示波器自动采集不少于100个脉冲信号并传输给控制计算机;将示波器采集到的脉冲波形数据进行处理计算,获得单个脉冲数据对应的衰减时间常数;将上述步骤重复用于处理所有采集下的脉冲数据,获得衰减时间常数集合;用衰减时间常数集合做直方图,数据应呈现正态分布;使用高斯函数对该正态分布进行拟合,所获得的峰值对应的衰减时间值即为该样品的衰减时间。本发明能够准确测试不同闪烁材料的衰减时间,尤其适用于高通量衰减时间测量。