公开(公告)号：CN111327374A

公开(公告)日：2020-06-23

申请号：CN201811542211.2

申请日：2018-12-17

Applicant: 天津光电通信技术有限公司

Inventor： 邱慧昌 ,  赵辰 ,  李建峰 ,  王冬祥 ,  闫锡桐 ,  窦向会 ,  姜博畅

IPC: H04B17/29

Abstract: 本发明提供一种测试AD性能的方法，其过程如下：1)两台矢量信号源、PC机、合路器和被测接收机；将两台矢量信号源的输出端与合路器的输入端相连，合路器的输出端与被测接收机相连，被测接收机与PC机相连。2)计算输入二阶互调截点值为IIP2＝2Pin-Ps(dBm)；3)计算三阶互调截点值为 4)计算路间隔离度，其公式为：ACI＝Pw0-Pwn(dBm)。本方法可以方便计算AD芯片采集模拟信号的二、三阶互调截点、路间隔离度；使得短波超短波等设备便于性能测试；具有结构简单、使用方便、测试数据准确等优点。

公开(公告)号：CN111327374B

公开(公告)日：2022-03-01

申请号：CN201811542211.2

申请日：2018-12-17

Applicant: 天津光电通信技术有限公司

Inventor： 邱慧昌 ,  赵辰 ,  李建峰 ,  王冬祥 ,  闫锡桐 ,  窦向会 ,  姜博畅

IPC: H04B17/29

Abstract: 本发明提供一种测试AD性能的方法，其过程如下：1)两台矢量信号源、PC机、合路器和被测接收机；将两台矢量信号源的输出端与合路器的输入端相连，合路器的输出端与被测接收机相连，被测接收机与PC机相连。2)计算输入二阶互调截点值为IIP2＝2Pin‑Ps(dBm)；3)计算三阶互调截点值为4)计算路间隔离度，其公式为：ACI＝Pw0‑Pwn(dBm)。本方法可以方便计算AD芯片采集模拟信号的二、三阶互调截点、路间隔离度；使得短波超短波等设备便于性能测试；具有结构简单、使用方便、测试数据准确等优点。