公开(公告)号：CN118129585A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202410044335.7

申请日：2024-01-11

Applicant: 天水七四九电子有限公司

Inventor： 闫景涛 ,  王钰中 ,  徐尚军 ,  祁勇 ,  冯苗 ,  马满乐 ,  包亚飞 ,  欧小荣 ,  杨保书 ,  马选林

IPC: G01B7/00 ,  G01D5/20 ,  G01D18/00

Abstract: 本发明公开了一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统和方法，包括电性能参数测试模块和应用状态模拟测试模块；所述电性能参数测试模块用于对非接触式电感接近传感器进行电性能参数测试；所述应用状态模拟测试模块用于对非接触式电感接近传感器进行应用状态模拟测试；所述应用状态模拟测试模块包括应用状态测试盒和位移测试台；所述位移测试台用于夹持非接触式电感接近传感器，应用状态测试盒内部设置有应用状态测试电路。本发明用于非接触式电感传感器控制电路的测试，有利于实现该种电路的批量化测试，提高生产效率。