基于二阶模式波的薄板结构超声TOFD检测盲区抑制方法

    公开(公告)号:CN114674928B

    公开(公告)日:2024-08-20

    申请号:CN202210276438.7

    申请日:2022-03-21

    Abstract: 本发明提供了一种基于二阶模式波的薄板结构超声TOFD检测盲区抑制方法,属于无损检测技术领域。该方法采用由超声探伤仪、TOFD探头、有机玻璃倾斜楔块和扫查装置组成的TOFD检测检测系统,沿待测薄板工件表面实施B扫查与信号采集,获得不同扫查位置处的A扫描信号集合。利用费马定理、斯涅尔定律与波型转换原理求解不同扫查位置处的二阶模式波最短传播声时与界面出射点位置,进而结合模拟退火算法确定晶片接收点与盲区内缺陷端点深度。与现有的可替代TOFD技术相比,该方法能够有效抑制薄板结构检测盲区并实现近表面缺陷深度定量,具有较高的工程应用价值。

    基于二阶模式波的薄板结构超声TOFD检测盲区抑制方法

    公开(公告)号:CN114674928A

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202210276438.7

    申请日:2022-03-21

    Abstract: 本发明提供了一种基于二阶模式波的薄板结构超声TOFD检测盲区抑制方法,属于无损检测技术领域。该方法采用由超声探伤仪、TOFD探头、有机玻璃倾斜楔块和扫查装置组成的TOFD检测检测系统,沿待测薄板工件表面实施B扫查与信号采集,获得不同扫查位置处的A扫描信号集合。利用费马定理、斯涅尔定律与波型转换原理求解不同扫查位置处的二阶模式波最短传播声时与界面出射点位置,进而结合模拟退火算法确定晶片接收点与盲区内缺陷端点深度。与现有的可替代TOFD技术相比,该方法能够有效抑制薄板结构检测盲区并实现近表面缺陷深度定量,具有较高的工程应用价值。

    一种可替代TOFD技术选取方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116660388A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310647272.X

    申请日:2023-06-02

    Abstract: 本发明公开了一种可替代TOFD技术选取方法,属于无损检测技术领域。针对实际检测中用于盲区抑制的可替代TOFD技术选取较为困难的问题,建立适用性量化标准,明确给定参数下适用性最强的可替代TOFD技术。该可替代TOFD技术选取方法能够在给定检测条件下,迅速确定适用性最强的可替代TOFD技术,以抑制TOFD检测盲区并实现近表面缺陷检测。同时,该方法可内置于超声检测设备中,并推广应用于各类材料的TOFD检测,具有较高工程应用价值和推广前景。

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