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公开(公告)号：CN114880218B
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202210443923.9
申请日：2022-04-26
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 本发明属于软件测试领域，具体为一种基于搜索的SMT求解器故障定位方法。首先使用遗传算法搜索变异规则列表对测试程序进行变异，得到一组不触发故障的变异测试程序。然后，使用基于频谱的方法通过比较触发故障的测试程序和不触发故障的变异测试程序的执行路径对可疑文件进行排名，得到文件排名列表。本发明能够对SMT求解器的故障进行定位分析，从而可以帮助开发者更快地找到SMT求解器的故障原因，方便了调试工作，提高了求解器的质量。
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公开(公告)号：CN114880218A
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202210443923.9
申请日：2022-04-26
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 本发明属于软件测试领域，具体为一种基于搜索的SMT求解器故障定位方法。首先使用遗传算法搜索变异规则列表对测试程序进行变异，得到一组不触发故障的变异测试程序。然后，使用基于频谱的方法通过比较触发故障的测试程序和不触发故障的变异测试程序的执行路径对可疑文件进行排名，得到文件排名列表。本发明能够对SMT求解器的故障进行定位分析，从而可以帮助开发者更快地找到SMT求解器的故障原因，方便了调试工作，提高了求解器的质量。
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公开(公告)号：CN113377675A
公开(公告)日：2021-09-10
申请号：CN202110767566.7
申请日：2021-07-07
Applicant: 大连理工大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明属于软件测试领域，涉及一种用于约简触发SMT求解器性能故障的测试用例的技术，具体为一种基于反馈的SMT求解器性能测试用例约简方法。首先验证输入的测试用例是否可以触发SMT求解器性能故障，然后使用二分搜索法通过比较代码覆盖率相似度对触发SMT求解器性能缺陷的测试用例断言数目进行约简，最后通过顺序替换断言中节点的方法简化测试用例中每一个断言的公式嵌套深度，从而生成最小化的测试用例。本发明能够对触发SMT求解器性能故障的测试用例进行有效约简，使用尽可能简单的测试用例充分满足给定的测试目标，从而提高测试效率、降低测试成本，可以帮助开发者更好地找到SMT求解器相关的性能故障，提高求解器的质量。
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公开(公告)号：CN113377675B
公开(公告)日：2024-12-06
申请号：CN202110767566.7
申请日：2021-07-07
Applicant: 大连理工大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明属于软件测试领域，涉及一种用于约简触发SMT求解器性能故障的测试用例的技术，具体为一种基于反馈的SMT求解器性能测试用例约简方法。首先验证输入的测试用例是否可以触发SMT求解器性能故障，然后使用二分搜索法通过比较代码覆盖率相似度对触发SMT求解器性能缺陷的测试用例断言数目进行约简，最后通过顺序替换断言中节点的方法简化测试用例中每一个断言的公式嵌套深度，从而生成最小化的测试用例。本发明能够对触发SMT求解器性能故障的测试用例进行有效约简，使用尽可能简单的测试用例充分满足给定的测试目标，从而提高测试效率、降低测试成本，可以帮助开发者更好地找到SMT求解器相关的性能故障，提高求解器的质量。
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