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公开(公告)号：CN107219214A
公开(公告)日：2017-09-29
申请号：CN201710616070.3
申请日：2017-07-26
Applicant: 大连理工大学
CPC classification number: G01N21/718 , G01N27/62
Abstract: 本发明公开了一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析装置。本装置使用激光诱导击穿光谱结合一种二级引出场飞行时间质谱(TOF)的定量分析结构与方法。实现高探测灵敏度、实时、快速、高精度、无接触式、多元素同时检出且样品无需预处理的定量分析装置。其中该装置中的双波长激光，便于再次电离光碎片及分子团簇，提高质谱信号稳定性，增强激光等离子体发射光谱信号；该装置中二级引出场，便于提高TOF质谱分辨率以及优化信号；该装置中的光谱收集系统，可以提高收集等离子体发射光耦合到光纤的能力，并且可以折叠光路，极其有利于仪器集成化，小型化，便于仪器商品化。
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公开(公告)号：CN107219214B
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN201710616070.3
申请日：2017-07-26
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 本发明公开了一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析装置。本装置使用激光诱导击穿光谱结合一种二级引出场飞行时间质谱(TOF)的定量分析结构与方法。实现高探测灵敏度、实时、快速、高精度、无接触式、多元素同时检出且样品无需预处理的定量分析装置。其中该装置中的双波长激光，便于再次电离光碎片及分子团簇，提高质谱信号稳定性，增强激光等离子体发射光谱信号；该装置中二级引出场，便于提高TOF质谱分辨率以及优化信号；该装置中的光谱收集系统，可以提高收集等离子体发射光耦合到光纤的能力，并且可以折叠光路，极其有利于仪器集成化，小型化，便于仪器商品化。
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公开(公告)号：CN116359809A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202310040286.5
申请日：2023-01-13
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01R33/10 , G01R33/02 , G01R33/032
Abstract: 本发明提供一种实时原位在线无接触式测量第一壁材料表面磁场的方法，包括：采用内窥镜结构的高能纳秒脉冲激光烧蚀不同磁场强度区域的第一壁材料并产生激光等离子体，激光等离子体在冷却过程中辐射出带有壁元素特征信息的光谱信号；利用内窥镜结构的光学收集系统对激光等离子体辐射光进行收集并耦合至多芯光纤，将收集到的等离子体辐射光耦合至光谱仪中；光谱数据经光谱仪传输至计算机中进行分析，通过提取出不同磁场强度下光谱特征峰的裂距及空间分布特征并与已建立的数据库中不同方向及不同磁场强度下的标准光谱进行比对，筛选出相关性系数最高的标准光谱；在数据库中找到该标准光谱对应的磁场强度及方向并显示，实现磁场强度及方向的测量。
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公开(公告)号：CN107271429B
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201710616091.5
申请日：2017-07-26
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 本发明公开了一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法。使用激光诱导击穿光谱结合具有引出场的飞行时间质谱(TOF)的定量分析，能够实现高探测灵敏度、实时、快速、高精度、无接触式、多元素同时检出且样品无需预处理的定量分析。其中该方法中的双波长激光，便于再次电离光碎片及分子团簇，提高质谱信号稳定性，增强激光等离子体发射光谱信号；该方法中引出场，便于提高TOF质谱分辨率以及优化信号；该方法中的飞行时间质谱，一可以对未知样品中元素进行快速判断，节省分析时间，实现实时定量分析，二可以校正基体效应以及材料表面形貌对光谱定量分析的影响，还可以探测发射光谱无法探测的暗态物种，有利于提高定量分析准确度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107252967A
公开(公告)日：2017-10-17
申请号：CN201710616090.0
申请日：2017-07-26
Applicant: 大连理工大学
CPC classification number: B23K26/0093 , B23K26/355 , G01N23/20 , G01N2223/052
Abstract: 本发明公开了一种超短脉冲激光表面结构改性制造高吸收率黑色金属的方法。该方法能够实现快速的、大面积均匀的表面改性区域，亦可通过改变激光聚焦的聚焦度实现μm量级区域的表面改性。此外该方法还可对磁控溅射、真空离子镀膜及等离子体喷涂镀膜在不对基底产生影响的状态下进行表面改性。
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公开(公告)号：CN107271429A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710616091.5
申请日：2017-07-26
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 本发明公开了一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法。使用激光诱导击穿光谱结合二级引出场飞行时间质谱(TOF)的定量分析，能够实现高探测灵敏度、实时、快速、高精度、无接触式、多元素同时检出且样品无需预处理的定量分析。其中该方法中的双波长激光，便于再次电离光碎片及分子团簇，提高质谱信号稳定性，增强激光等离子体发射光谱信号；该方法中二级引出场，便于提高TOF质谱分辨率以及优化信号；该方法中的飞行时间质谱，一可以对未知样品中元素进行快速判断，节省分析时间，实现实时定量分析，二可以校正基体效应以及材料表面形貌对光谱定量分析的影响，还可以探测发射光谱无法探测的暗态物种，有利于提高定量分析准确度。
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公开(公告)号：CN207396353U
公开(公告)日：2018-05-22
申请号：CN201720911911.9
申请日：2017-07-26
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 本实用新型公开了一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析装置。本装置使用激光诱导击穿光谱结合一种二级引出场飞行时间质谱(TOF)的定量分析结构与方法。实现高探测灵敏度、实时、快速、高精度、无接触式、多元素同时检出且样品无需预处理的定量分析装置。其中该装置中的双波长激光，便于再次电离光碎片及分子团簇，提高质谱信号稳定性，增强激光等离子体发射光谱信号；该装置中二级引出场，便于提高TOF质谱分辨率以及优化信号；该装置中的光谱收集系统，可以提高收集等离子体发射光耦合到光纤的能力，并且可以折叠光路，极其有利于仪器集成化、小型化，便于仪器商品化。
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公开(公告)号：CN207386799U
公开(公告)日：2018-05-22
申请号：CN201720911912.3
申请日：2017-07-26
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 本实用新型公开了一种超短脉冲激光表面结构改性制造高吸收率黑色金属的设备。数据采集分析计算机通过PXI Express端口连接FPGA时序模块、通过USB接口与电磁波探测器连接；FPGA时序模块通过BNC接口连接超短脉冲烧蚀激光器与加工机床；超短脉冲烧蚀激光器发射的激光，通过与入射激光方向垂直放置的激光扩束仪、半玻片与偏振立方体，半波片与入射激光成90°放置；通过旋转半波片激光通过偏振立方体后分为两束；第一束激光被反射到与激光入射方向成90°的残余激光吸收器里，第二束激光沿着入射方向继续向前传播，通过与入射激光方向成45°放置的抛物面激光聚焦反射镜，抛物面激光聚焦反射镜到被改性材料的距离为抛物面激光聚焦反射镜的焦距。
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