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公开(公告)号:CN1677614A
公开(公告)日:2005-10-05
申请号:CN200510062973.9
申请日:2005-03-31
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G09G3/006 , G09G3/3677 , G09G3/3688 , G09G2310/0283 , H01L22/32 , H01L2224/73204 , H01L2924/07811 , H01L2924/3011 , H05K1/0231 , H05K1/189 , Y10S257/924 , H01L2924/00
Abstract: 作为用于向LSI芯片供给电压VGL的VGL用布线,设置了直接连接于LSI芯片上的布线L1、以及不直接连接于LSI芯片上而连接于设在与电压VGH用的布线之间的电容器的一个电极上的布线LB1,分别对布线L1和布线LB1设置了电压输入端子。由此,就提供一种半导体装置和其电检查方法,在内置了电容器的半导体装置中,可以缩短用于电筛选的测试(最终测试)时间谋求降低成本。
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公开(公告)号:CN100364043C
公开(公告)日:2008-01-23
申请号:CN200510062973.9
申请日:2005-03-31
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G09G3/006 , G09G3/3677 , G09G3/3688 , G09G2310/0283 , H01L22/32 , H01L2224/73204 , H01L2924/07811 , H01L2924/3011 , H05K1/0231 , H05K1/189 , Y10S257/924 , H01L2924/00
Abstract: 作为用于向LSI芯片供给电压VGL的VGL用布线,设置了直接连接于LSI芯片上的布线L1、以及不直接连接于LSI芯片上而连接于设在与电压VGH用的布线之间的电容器的一个电极上的布线LB1,分别对布线L1和布线LB1设置了电压输入端子。由此,就提供一种半导体装置和其电检查方法,在内置了电容器的半导体装置中,可以缩短用于电筛选的测试(最终测试)时间谋求降低成本。
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