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公开(公告)号：CN101263446B
公开(公告)日：2010-06-23
申请号：CN200680033905.2
申请日：2006-09-11
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G06F3/045
Abstract: 本发明提供一种坐标位置检测装置，其包括：位置检测用的导电体；连接在导电体的不同位置的多个端子；信号输出部，其具有用于积蓄电荷的电荷积蓄部，并输出表示与积蓄在电荷积蓄部中的电荷量对应的电压的信号；将电荷积蓄部的电压设定为规定值的设定部；和开关部，其对多个端子中的规定的端子与电荷积蓄部之间的连接和非连接进行切换，并且对规定的端子与规定的电源之间的连接和非连接进行切换。
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公开(公告)号：CN101384981A
公开(公告)日：2009-03-11
申请号：CN200780005128.5
申请日：2007-02-07
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G06F3/03547 , G06F3/044
Abstract: 本发明有关的坐标位置检测装置，具备：具有对用于位置检测的电阻膜2B的电位在正与负之间进行周期性变化的电容耦合方式触摸面板2的耦合电容进行充电的功能、和使充电的前述耦合电容返回到充电前的状态的复位功能的充电电路12及14；将充电电路12及14对前述耦合电容供给多次电流后的前述耦合电容的充电电流的累计值变换为电压的电流－电压变换电路15及16；以及根据电流－电压变换电路15及16的输出，来检测接触坐标位置的运算装置17，用于位置检测的电阻膜2B的电位为正时的充电次数、与用于位置检测的电阻膜2B的电位为负时的充电次数实质上相同。若根据这样的构成，则即使用于位置检测的电阻膜的电位产生周期性变化时，也能够提高接触坐标位置的检测精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1380564A
公开(公告)日：2002-11-20
申请号：CN02105669.2
申请日：2002-03-29
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/1374 , G02B3/02 , G11B7/00 , G11B7/1378 , G11B7/13922 , G11B7/13925 , G11B7/1398 , G11B2007/13727
Abstract: 提供一种物镜及其制造误差的校正方法以及使用该物镜的光拾取装置,物镜是两个面为非球面的单面物镜。物镜的数值孔径为0.75以上,设使用波长的至少一个的上述玻璃的折射率为n,设d线中的阿贝数为v时,满足1.75
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公开(公告)号：CN1223872C
公开(公告)日：2005-10-19
申请号：CN02105669.2
申请日：2002-03-29
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/1374 , G02B3/02 , G11B7/00 , G11B7/1378 , G11B7/13922 , G11B7/13925 , G11B7/1398 , G11B2007/13727
Abstract: 提供一种物镜及其制造误差的校正方法以及使用该物镜的光拾取装置，物镜是两个面为非球面的单面物镜。物镜的数值孔径为0.75以上，设使用波长的至少一个的上述玻璃的折射率为n，设d线中的阿贝数为v时，满足1.75＜n，且35＜v。由此，可实现小型化，另外，不伴随光利用效率的降低，像差小，且可简单地校正该像差。
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公开(公告)号：CN109726337A
公开(公告)日：2019-05-07
申请号：CN201811224146.9
申请日：2018-10-19
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G06F16/955 , G06F16/958 , G06Q50/00
Abstract: 生成装置(3、3a以及3b)包括控制部(20、20a或20b)和通信部(29)，上述控制部，通过上述通信部(29)取得与应用程序在上述终端装置(2以及2a)的显示画面上所显示的内容有关的数据，参考上述数据生成与上述内容有关的共享页。
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公开(公告)号：CN101384981B
公开(公告)日：2011-07-13
申请号：CN200780005128.5
申请日：2007-02-07
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G06F3/03547 , G06F3/044
Abstract: 本发明有关的坐标位置检测装置，具备：具有对用于位置检测的电阻膜2B的电位在正与负之间进行周期性变化的电容耦合方式触摸面板2的耦合电容进行充电的功能、和使充电的前述耦合电容返回到充电前的状态的复位功能的充电电路12及14；将充电电路12及14对前述耦合电容供给多次电流后的前述耦合电容的充电电流的累计值变换为电压的电流-电压变換电路15及16；以及根据电流-电压变換电路15及16的输出，来检测接触坐标位置的运算装置17，用于位置检测的电阻膜2B的电位为正时的充电次数、与用于位置检测的电阻膜2B的电位为负时的充电次数实质上相同。若根据这样的构成，则即使用于位置检测的电阻膜的电位产生周期性变化时，也能够提高接触坐标位置的检测精度。
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公开(公告)号：CN101263446A
公开(公告)日：2008-09-10
申请号：CN200680033905.2
申请日：2006-09-11
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G06F3/045
Abstract: 本发明提供一种坐标位置检测装置，其包括：位置检测用的导电体；连接在导电体的不同位置的多个端子；信号输出部，其具有用于积蓄电荷的电荷积蓄部，并输出表示与积蓄在电荷积蓄部中的电荷量对应的电压的信号；将电荷积蓄部的电压设定为规定值的设定部；和开关部，其对多个端子中的规定的端子与电荷积蓄部之间的连接和非连接进行切换，并且对规定的端子与规定的电源之间的连接和非连接进行切换。
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