显示装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112740316B

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN201880097380.1

    申请日:2018-09-28

    Abstract: 能够实现一种能够快速求出整个屏幕中的驱动晶体管的平均的劣化度以更有效地补偿驱动晶体管的劣化的显示装置。显示装置中设有:总电流测量电路(50),其在显示有特定的图像的状态下测量多个像素电路的全部像素电路或2以上的像素电路中流过的驱动电流作为总电流;判断用数据存储部(110),其保存判断用数据,该判断用数据用于判断是否执行特性检测监测,该特性检测监测用于检测驱动晶体管的特性;以及判断部(120),其基于总电流和判断用数据来判断是否执行特性检测监测。

    显示装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102770901A

    公开(公告)日:2012-11-07

    申请号:CN201180010088.X

    申请日:2011-02-15

    Abstract: 根据本发明的显示装置具有配置为矩阵状的多个像素,多个像素中的各个像素包括显示相互不同的颜色的4种或5种子像素。在各像素内,显示亮度最高的颜色的第一子像素和显示亮度第二高的颜色的第二子像素以不相邻的方式配置。4种或者5种子像素包括多个显示单位,该多个显示单位中的各个显示单位能够显示特定颜色并且包括1个或者连续的2个以上的子像素。根据本发明的显示装置,在输入图像的分辨率比由总像素数规定的显示分辨率高的情况下,能够将多个显示单位的各个显示单位作为假想的像素进行显示。根据本发明,提供即使在输入图像的分辨率比显示装置的分辨率高时也能够抑制显示品质的降低的多原色显示装置。

    显示装置
    9.
    发明公开
    显示装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN117223049A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202180097659.1

    申请日:2021-06-14

    Abstract: 显示装置具有:显示面板,其具有一组像素;控制部,其能够执行劣化监控和第一高速监控,所述劣化监控检测所述组像素的发光效率的降低,所述第一高速监控以比所述劣化监控高的速度执行,以判定是否应该进行所述劣化监控;以及存储部,其存储确定了执行所述劣化监控的允许范围的参考数据,如果由所述第一高速监控得到的第一高速监控测定值在所述允许范围内,则所述控制部执行所述劣化监控。

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