公开(公告)号：CN107305179A

公开(公告)日：2017-10-31

申请号：CN201610248232.8

申请日：2016-04-20

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 陈威 ,  佐藤俊一 ,  冯立辉 ,  黄艺贤

IPC: G01N15/06

CPC classification number: G01N15/06 ,  G01N21/49 ,  G01N2015/0693

Abstract: 本发明涉及颗粒物浓度检测方法，包括：使光照射到包含已知浓度的至少一种颗粒物的参考气体上，产生光散射效应，并使用光检测器检测所述光在至少一个光散射角度上的散射强度，作为所述至少一种颗粒物的参考值；使相同强度的光照射到包含浓度未知的所述至少一种颗粒物的待测气体上，并且所述光检测器检测所述光在所述至少一个光散射角度上的散射强度，作为所述至少一种颗粒物的测量值；以及根据颗粒物散射原理，基于所述参考值和所述测量值，计算所述至少一种颗粒物的浓度。根据本发明的颗粒物浓度检测方法的成本较低，且能够迅速地检测颗粒物浓度。

公开(公告)号：CN205844139U

公开(公告)日：2016-12-28

申请号：CN201620335016.2

申请日：2016-04-20

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 陈威 ,  冯立辉 ,  黄艺贤

IPC: G01N15/06

Abstract: 本实用新型涉及颗粒物浓度检测设备，包括：通孔区域，用于从外部接收待检测气体，所述待检测气体包含至少一种颗粒物；光源，用于产生光并照射到所述通孔区域，所述光由所述通孔区域中的待检测气体散射；至少一个光检测器，布置在从所述通孔区域散射的光的前进方向上，用于检测散射光的强度；光学陷阱，包括：入射光引导组件，用于引导所述光源产生的光照射到所述通孔区域之外的部分，使之不再照射到所述通孔区域；以及散射光引导组件，用于引导从所述通孔区域散射的光照射到所述至少一个光检测器之外的部分，使之不再反射到所述至少一个光检测器。根据本实用新型的颗粒物浓度检测设备的成本较低且能够高精度地检测颗粒物浓度。