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公开(公告)号：CN1524265A
公开(公告)日：2004-08-25
申请号：CN02813586.5
申请日：2002-11-05
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/0901 , G11B7/094 , G11B7/123 , G11B7/131
Abstract: 本发明以使用主束光量不减小的1光束跟踪法时，抑制物镜移位和盘片倾斜造成的偏移的产生，取得稳定的各自伺服性能为目的。此外，在全息透镜与感光部之间配置衍射光栅，并使其衍射效率在光栅纵向不同。例如，作为偏移，衍射光栅的入射光在光栅纵向移位时，各感光区中的感光光量发生变化。进行跟踪伺服，以便消除该变化，从而可补偿偏移，能得到稳定的跟踪伺服性能。
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公开(公告)号：CN1391217A
公开(公告)日：2003-01-15
申请号：CN02124532.0
申请日：2002-04-24
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 三宅隆浩
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B11/10584 , G11B7/00718 , G11B7/0903 , G11B7/0945 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/1381 , G11B11/10543 , G11B11/10576
Abstract: 在本发明中，对于形成槽部和脊部的光盘，利用照射光在光盘上形成一个主光点和第1付光点及第2付光点，备有表示各个光点和光迹偏置的运算电路，设第1付光点的推挽信号的AC振幅为SPP1，第2付光点的推挽信号的AC振幅为SPP2，备有α检测部，用于检测如SPP1和αSPP2的绝对值的差容纳在预定范围内的α值，设SPP1－αSPP2(其中α为常数)为脊/槽的判别信号。借此，在进行形成脊/槽部的光盘的记录重放的光拾取装置中，通过产生无偏置的脊/槽判别信号及跟踪错误信号，可进行良好的跟踪控制。
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公开(公告)号：CN102696003A
公开(公告)日：2012-09-26
申请号：CN201180005253.2
申请日：2011-03-03
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G06F3/033
CPC classification number: G06F1/169 , G06F1/1616 , G06F3/03547 , G06F3/042
Abstract: 本发明提供一种光学指向装置及具备该光学指向装置的电子设备。为了通过减少部件数量来实现超薄型且安装性能优异的光学指向装置，本发明的光学指向装置(10)包括：对被摄物(1)照射光的光源(2)；具有对来自被摄物(1)的散射光进行成像的成像部(4)且在内部对来自被摄物(1)的散射光进行传输的导光体(6)；以及对从导光体(6)射出的来自被摄物(1)的散射光进行拍摄的摄像部(7)。而且，在射入导光体(6)内部的来自被摄物的光线(L)射出到导光体(6)外部之前的光路中，导光体(6)在使光线(L)不与空气相接触的条件下对其进行导光。
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公开(公告)号：CN102667675A
公开(公告)日：2012-09-12
申请号：CN201080053562.2
申请日：2010-09-29
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G02B6/43 , G02B6/4214 , G06F3/042 , G06F2203/04109
Abstract: 本发明的目的在于减少光学指向装置的零部件数量，并减少对各部件进行组装或粘贴等的工序数目，本发明所涉及的光学指向装置（30）中包含的导光体（24）具有：对从接触面（11）射入的光进行反射以将该光向水平方向引导的折弯元件（12）；以及使该反射后的光进一步向与水平方向相反的方向反射并成像的成像元件（14），通过成像元件（14）成像后的光从出射部射出。
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公开(公告)号：CN1981334A
公开(公告)日：2007-06-13
申请号：CN200580022546.6
申请日：2005-03-01
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G02B5/1866 , G02B27/14 , G11B7/1353 , G11B7/1378 , G11B7/13925 , G11B7/1398 , G11B2007/13727
Abstract: 一种拾光器，使衍射光栅(3)的光栅常数在整个光栅上恒定，并且使由L/G负载比(％)＝L/(L+G)×100定义的、称为栅面L与栅槽G的L/G负载比的负载比率沿与衍射光栅的栅槽正交的方向连续变化。例如，在衍射光栅的中央部L/G负载比接近50％，在衍射光栅(3)的外缘部接近100％。通过这样，既能减少拾光器的部件数量、又能使记录和再现时的光量损耗最小。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1953072A
公开(公告)日：2007-04-25
申请号：CN200610137384.7
申请日：2006-10-19
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 三宅隆浩
CPC classification number: G11B7/1353
Abstract: 本发明揭示一种光拾取装置，能够减小用物镜聚焦的光点的像差、不降低光的利用效率、具有接近0级衍射光即主光束的光强度分布均匀的理想状态的聚焦特性。本发明的光拾取装置，具有射出光束的光源、将光束引向聚焦单元的衍射光栅、以及使光束聚焦在记录介质上的聚焦单元，将从光源射出的光束通过上述衍射光栅，利用上述聚焦单元，聚焦在记录介质上，上述衍射光栅具有产生抵消由光源产生的像散的方向的像散的光栅槽。因此，能够提供可将光束聚缩达到接近无像差时的光点大小、具有优异的聚焦特性的光拾取装置。
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公开(公告)号：CN1747013A
公开(公告)日：2006-03-15
申请号：CN200510089347.9
申请日：2005-07-22
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/1398 , G11B7/0903 , G11B7/1353
Abstract: 本发明的光拾取装置，以能不增加部件数而改善再现信号的分辨力，且在组装光拾取装置时省略衍射光栅的位置调整为目的，包括，半导体激光器1、衍射光栅3、物镜5及推挽信号检测部10。衍射光栅3将半导体激光器1出射的光变为0次衍射光和一对±1次衍射光。设定所述衍射光栅3，使沿从光轴近旁到周边部方向，减小0次衍射光强度的下降率，同时减小一对±1次衍射光各自的强度。因此，整形0次衍射光使强度分布平坦，一对±1次衍射光，其光轴近旁的光束相对于外缘部的光束，光强度更大。从而，能改变再现信号的分辨力，组装时能省略衍射光栅的位置调整。
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公开(公告)号：CN1170281C
公开(公告)日：2004-10-06
申请号：CN02124532.0
申请日：2002-04-24
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 三宅隆浩
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B11/10584 , G11B7/00718 , G11B7/0903 , G11B7/0945 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/1381 , G11B11/10543 , G11B11/10576
Abstract: 在本发明中，对于形成槽部和脊部的光盘，利用照射光在光盘上形成一个主光点和第1付光点及第2付光点，备有表示各个光点和光迹偏置的运算电路，设第1付光点的推挽信号的AC振幅为SPP1，第2付光点的推挽信号的AC振幅为SPP2，备有α检测部，用于检测如SPP1和αSPP2的绝对值的差容纳在预定范围内的α值，设SPP1-αSPP2(其中α为常数)为脊/槽的判别信号。借此，在进行形成脊/槽部的光盘的记录重放的光拾取装置中，通过产生无偏置的脊/槽判别信号及跟踪错误信号，可进行良好的跟踪控制。
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公开(公告)号：CN1320538C
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：CN03817574.6
申请日：2003-06-20
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/13927 , G11B7/0945
Abstract: 拾光器(22)将读取光束照射到靠主轴电机(30)旋转的光盘(40)，并接收其反射光。激光发生元件(21)产生的激光束透射穿过为校正光盘透射基片的厚度误差带来的球面像差而设置的液晶板(25)后，被引导到物镜(26)。控制电路(50)使球面像差校正信号(SA)变化，在光检测器(31)的输出变化大的区域进行多个取样，并且用运算处理求出近似曲线上的顶点位置，作为校正量。由此，能在短时间内准确检测出校正因光盘厚度误差而产生的球面像差用的校正量。
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公开(公告)号：CN1308939C
公开(公告)日：2007-04-04
申请号：CN02819590.6
申请日：2002-10-04
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 三宅隆浩
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/094 , G11B7/0901 , G11B7/0943 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B11/10576 , G11B11/10597
Abstract: 来自光盘的反射光的一部分光入射至衍射元件(10)。来自该衍射元件(10)的±1级衍射光及0级衍射光通过柱面透镜(11)及聚焦透镜(12)，入射至光检测器(13)。这时，在物镜位移时，衍射元件(10)上的光束也位移，落在四分割受光元件(13a)的受光区(A、B、C、D)的0级衍射光的光点强度分布在整体上变亮，落在受光元件(13b、13c)的受光区(E、F)的±1级衍射光的光点强度分布在整体上变暗。这样，本发明将提供能够进行很好的跟踪控制的光学头的跟踪误差检测方法及光学头装置。
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